Optisches Nahfeldmikroskop

点击翻译按钮获取中文摘要

Im Rahmen dieses Antrags soll ein Nahfeldmikroskop beschafft werden mit dem es möglich wird, magnetische Anregungen mit einer Ortsauflösung von deutlich unterhalb von 200 nm zu untersuchen. Das System ist komplementär zu einem bereits existierenden Raster-Kerr-Mikroskop bei dem die Magnetisierungsdynamik mit Anrege-Abfrage-Technik durch Beleuchtung mit einem Femtosekundenlaser untersucht werden kann. Die dabei erreichbare Ortsauflösung beträgt etwa 250 nm. Mit der neu zu beschaffenden Ausrüstung soll eine Abbildung von Magnetisierungsdynamik bis mit etwa 50 nm Ortsauflösung erreicht werden. Mit dem Gerät sollen so die aktuellen Forschungsarbeiten zur Magnetisierungsdynamik in Nanostrukturen mit verbesserter Ortsauflösung weitergeführt werden. Darüber hinaus soll durch eine Kombination aus optischer Anregung (im Mittelinfrarotbereich) mit einer optischen Nanoantenne (metallisierte AFM-Spitze) und der simultanen Messung der dadurch generierten elektrischen Spannungssignale an Nanostrukturen die lokale Magnetisierungskonfiguration untersucht werden. Hier soll die Ortsauflösung im Bereich von 20 nm erreicht werden.