Optisches Nahfeldmikroskop (SNOM)
Optisches Nahfeldmikroskop (SNOM)
批准号:
97666471
负责人:
金额:
$0.0万
依托单位:
依托单位国家:
德国
项目类别:
Major Research Instrumentation
财政年份:
2008
资助国家:
德国
项目状态:
未结题
起止时间:
2007-12-31 至 --
中文摘要
这架光学望远镜在一个维扎尔中发射。geplanter Projekte für die Untersuchung bzw. Strukturierung von funktionalen Polymerschichten auf sub-Mikrometer-Längenskala unter definierten Umgebungsbedingungen eingesetzt韦尔登. Ein besseres Verständnis der Eigenschaften dieser Schichten und damit auch eine gezielte Weiterentwicklung daraus aufgebauter Devices ist努尔möglich,wenn es in Zukunft gelingt,quantitative Informationen zur Struktur,zu den optischen Eigenschaften(Absorption und Emission),zur elektrischen Leitfähigkeit und zu den optoelektronischen Eigenschaften der Schichten mit sehr hoher räumlichen Auflösung zu erhalten.这种膨胀必须与其自身的尺寸或Schichten的纳米结构尺寸相匹配。德国的Längenskala liegt deutlich unterhalb der räumlichen Auslösung berits in波茨坦etablierter Methoden(konventionelle oder auch konfokale optische Mikroskopie)。从技术上讲,拉格的光学纳洛显微镜是一种100 nm波长的光学纳洛显微镜。SNOM为波茨坦大学提供了一种理想的工作方法。在软物质系统的功能性研究中,我们需要一种结构的支撑结构。
英文摘要
Das beantragte optische Nahfeldmikroskop soll in einer Vielzahl bereits beantragter bzw. geplanter Projekte für die Untersuchung bzw. Strukturierung von funktionalen Polymerschichten auf sub-Mikrometer-Längenskala unter definierten Umgebungsbedingungen eingesetzt werden. Ein besseres Verständnis der Eigenschaften dieser Schichten und damit auch eine gezielte Weiterentwicklung daraus aufgebauter Devices ist nur möglich, wenn es in Zukunft gelingt, quantitative Informationen zur Struktur, zu den optischen Eigenschaften (Absorption und Emission), zur elektrischen Leitfähigkeit und zu den optoelektronischen Eigenschaften der Schichten mit sehr hoher räumlichen Auflösung zu erhalten. Die Auflösung muss dabei vergleichbar mit der Dimension der spontanen oder gezielten Nanostrukturierung der Schichten sein. Diese Längenskala liegt deutlich unterhalb der räumlichen Auslösung bereits in Potsdam etablierter Methoden (konventionelle oder auch konfokale optische Mikroskopie). Nach dem derzeitigen Stand der Technik sind ausschließlich optische Nahfeldmikroskope in der Lage, Strukturen auf der Längenskala unterhalb von 100 nm abzubilden. Das SNOM stellt eine ideale Ergänzung zu den an der Universität Potsdam bereits etablierten zeit- und ortsaufgelösten Methoden dar. Insbesondere leistet die Anschaffung des Gerätes einen Beitrag zum Ausbau der Infrastruktur zur Untersuchung funktionaler Soft Matter Systeme.
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