Local structure characterization of InGaN/GaN multi quantum wells by using synchrotron radiation nanobeam focused by compound refractive lens
Local structure characterization of InGaN/GaN multi quantum wells by using synchrotron radiation nanobeam focused by compound refractive lens
利用复合折射透镜聚焦的同步辐射纳米束表征InGaN/GaN多量子阱的局域结构
批准号：
20H02644
负责人：
Kimura Shigeru
金额：
$10.73万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2020
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2020-04-01 至 2023-03-31
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会议论文
Development of Compound Refractive Lenses Made of Si for Sub-micron Focusing of High-Energy X-rays
用于亚微米高能X射线聚焦的硅复合折射透镜的研制
用于亚微米高能X射线聚焦的硅复合折射透镜的研制
DOI：
--
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Kazushi Sumitani, Yasuhiko Imai, and Shigeru Kimura]
通讯作者：
and Shigeru Kimura
Si製屈折レンズを用いた高エネルギーX線サブミクロン集光
使用硅折射透镜进行高能 X 射线亚微米聚焦
使用硅折射透镜进行高能 X 射线亚微米聚焦
DOI：
--
发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
--
作者：
[隅谷和嗣, 今井康彦, 木村滋]
通讯作者：
木村滋
高エネルギーX線サブミクロン集光のためのSi製屈折レンズの開発
开发用于高能X射线亚微米聚焦的硅折射透镜
开发用于高能X射线亚微米聚焦的硅折射透镜
DOI：
--
发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
--
作者：
[隅谷和嗣, 今井康彦, 木村滋]
通讯作者：
木村滋
Determination of composition and strain for strain released SiGe thin layers on Si with using anomalous x-ray microdiffraction
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批准号：16H03913
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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资助金额：$10.57万
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财政年份：2016
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负责人：Kimura Shigeru
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依托单位：
海外基金
