Determination of composition and strain for strain released SiGe thin layers on Si with using anomalous x-ray microdiffraction
Determination of composition and strain for strain released SiGe thin layers on Si with using anomalous x-ray microdiffraction
使用反常 X 射线微衍射测定 Si 上应变释放 SiGe 薄层的成分和应变
批准号：
16H03913
负责人：
Kimura Shigeru
金额：
$10.57万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2016
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2016-04-01 至 2019-03-31
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Current Status of Material Characterization by Synchrotron Radiation Nanobeam X-ray Diffraction
同步辐射纳米束X射线衍射材料表征的现状
同步辐射纳米束X射线衍射材料表征的现状
DOI：
10.5940/jcrsj.61.51
发表时间：
2019
期刊：
Nihon Kessho Gakkaishi
影响因子：
--
作者：
[T. Mitsui, K. Mibu, M. Seto, M. Kurokuzu, S. P. Pati, T. Nozaki and M. Sahashi, •今井康彦，隅谷和嗣，木村 滋]
通讯作者：
•今井康彦，隅谷和嗣，木村 滋
High-resolution Micro- and Nano-beam Diffraction System at BL13XU of the SPring-8
SPring-8 BL13XU 的高分辨率微束和纳米束衍射系统
SPring-8 BL13XU 的高分辨率微束和纳米束衍射系统
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
Material Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology
影响因子：
--
作者：
[Shigeru Kimura, Yasuhiko Imai]
通讯作者：
Yasuhiko Imai
利用研究促進部門 メンバー（木村 滋）ホームページ
活用研究推进部委员（木村茂）主页
活用研究推进部委员（木村茂）主页
DOI：
--
发表时间：
期刊：
影响因子：
--
作者：
[]
通讯作者：
Current status of nanobeam x-ray diffraction station at SPring-8
SPring-8纳米束X射线衍射站的现状
SPring-8纳米束X射线衍射站的现状
DOI：
10.1063/1.5084622
发表时间：
2019
期刊：
AIP Conference Proceedings
影响因子：
--
作者：
[Imai Yasuhiko, Sumitani Kazushi, Kimura Shigeru]
通讯作者：
Kimura Shigeru
ナノビームＸ線回折装置へのピクセル検出器の導入
将像素探测器引入纳米束X射线衍射装置
将像素探测器引入纳米束X射线衍射装置
DOI：
--
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
作者：
[K. Ohara, and S. Shiotani, 今井康彦，隅谷和嗣，木村 滋]
通讯作者：
今井康彦，隅谷和嗣，木村 滋
Local structure characterization of InGaN/GaN multi quantum wells by using synchrotron radiation nanobeam focused by compound refractive lens
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批准号：20H02644
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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资助金额：$10.73万
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财政年份：2020
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负责人：Kimura Shigeru
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依托单位：
海外基金