難加工材料に対する超音波援用電気化学機械研磨法の開発

难加工材料超声波辅助电化学机械抛光方法的开发

基本信息

  • 批准号:
    20J10524
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 1.47万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
  • 财政年份:
    2020
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2020-04-24 至 2022-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

本研究では、スラリーを用いずに導電性難加工材料の表面を超音波振動誘起の歪場形成により高能率に陽極酸化させて軟質化し、軟質層のみを母材よりも低硬度な固定砥粒を作用させて除去することでダメージフリーな表面を高能率に得る革新的な超音波援用電気化学機械研磨(UAECMP)プロセスを開発し、CMPを代替することを目指す。この研磨法を開発するために、今年度はこの研磨法の開発に対して以下4つの進捗が見られた。① SiCの陽極酸化速度を上げるため、SiCの陽極酸化メカニズムを調査し、電解液温度、表面損傷、ドーピング濃度、および表面ひずみがSiCの陽極酸化レートに及ぼす影響とそのメカニズムを定量的に調査した。② SiCの陽極酸化における電荷利用効率を上げるために、SiC-NaCl水溶液系における陽極酸化現象をモデル化し、SiCの陽極酸化とECMPにおける電荷利用効率と副反応を調査した。③ 4インチウエハ全面UAECMP装置を開発して、装置の超音波ユニットの振動正確性、可制御性、均一性、安定性を確認し, 4インチSiCウエハの研磨量分布を評価した。④ 4インチSiCウエハの研磨を行い、研磨量分布を評価し、揺動速度制御型研磨プロセスを提案した。研究の成果は加工関連のジャーナルに発表した。得られた研究成果は広く学界と産業界の知るところとなり、これから半導体材料加工分野における超音波援用電気化学機械研磨の応用が期待できる。
This study で は, ス ラ リ ー を with い ず に の surface conductivity difficult-to-machine materials を ultrasonic vibration induced の tilt field formed に よ り high-energy に anode acidification さ せ て soft qualitative し, soft layer の み を parent metal よ り な fixed strop of low hardness も を role さ せ て remove す る こ と で ダ メ ー ジ フ リ ー な surface を high-energy に る innovation of な ultrasound 気 chemical avail himself of the electricity Mechanical grinding (UAECMP) プロセスを develops プロセスを, CMPを replaces する する とを finger す. The <s:1> grinding method を development するために, this year the <s:1> grinding method に development に for て and the following 4 <s:1> will enter 捗が see られた. (1) on SiC の anode acidification speed を げ る た め, SiC の anode acidification メ カ ニ ズ ム し を investigation, electrolyte temperature, surface damage, ド ー ピ ン グ concentration, お よ び surface ひ ず み が SiC の anode acidification レ ー ト に and ぼ す influence と そ の メ カ ニ ズ ム を に quantitative survey し た. (2) SiC の anode acidification に お け る charge using the working rate on を げ る た め に, SiC - NaCl aqueous solution に お け る anode acidification phenomenon を モ デ ル し, SiC の anode acidification と ECMP に お け る charge using the working rate と anti 応 を survey し た. (3) 4 イ ン チ ウ エ ハ comprehensive UAECMP device を open 発 し て, device の ultrasound ユ ニ ッ ト の vibration correctness, with royal sex could be, homogeneity, stability を confirm し, 4 イ ン チ SiC ウ エ ハ の grinding quantity distribution を review 価 し た. ④ 4. <s:1> チSiCウエハ grinding を rows た, grinding volume distribution を evaluation 価, vibration speed control type grinding プロセスを proposal た た. The research <s:1> results are related to the processing of <s:1> ジャ, ナ, に, に and <s:1> た. Research achievements have ら れ た は hiroo く academic と industry の know る と こ ろ と な り, こ れ か ら semiconductor materials processing eset に お け る ultrasound avail himself of the electricity 気 chemical mechanical polishing の 応 with が expect で き る.

项目成果

期刊论文数量(7)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Effects of ultrasonic vibration on slurryless electrochemical mechanical polishing of 4H-SiC (0001) surface
超声波振动对4H-SiC(0001)表面无浆电化学机械抛光的影响
  • DOI:
  • 发表时间:
    2020
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Xiaozhe Yang;Xu Yang;Kentaro Kawai;Kenta Arima;Kazuya Yamamura
  • 通讯作者:
    Kazuya Yamamura
電気化学機械研磨によるSiCの高能率スラリーレス加工法の開発(第7報)-多孔質材料を用いたSiC表面の局部陽極酸化に関する検討-
利用电化学机械抛光开发 SiC 高效无浆加工方法(第七次报告) - 利用多孔材料对 SiC 表面进行局部阳极氧化的研究 -
  • DOI:
  • 发表时间:
    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    楊旭,楊暁喆(Xiaozhe Yang),川合健太郎,有馬健太,山村和也
  • 通讯作者:
    楊旭,楊暁喆(Xiaozhe Yang),川合健太郎,有馬健太,山村和也
Dominant factors and their action mechanisms on material removal rate in electrochemical mechanical polishing of 4H-SiC (0001) surface
  • DOI:
    10.1016/j.apsusc.2021.150130
  • 发表时间:
    2021-10
  • 期刊:
  • 影响因子:
    6.7
  • 作者:
    Xiaozhe Yang;Xu Yang;K. Kawai;Kenta Arima;K. Yamamura
  • 通讯作者:
    Xiaozhe Yang;Xu Yang;K. Kawai;Kenta Arima;K. Yamamura
Efficient and slurryless ultrasonic vibration assisted electrochemical mechanical polishing for 4H-SiC wafers
  • DOI:
    10.1016/j.ceramint.2021.11.301
  • 发表时间:
    2022-02-17
  • 期刊:
  • 影响因子:
    5.2
  • 作者:
    Yang, Xiaozhe;Yang, Xu;Yamamura, Kazuya
  • 通讯作者:
    Yamamura, Kazuya
Charge utilization efficiency in the electrochemical mechanical polishing of 4H-SiC (0001)
4H-SiC(0001)电化学机械抛光中的电荷利用效率
  • DOI:
    10.1149/1945-7111/ac4b1f
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    3.9
  • 作者:
    X. Yang;X. Yang;H. Gu;K. Kawai;K. Arima;K. Yamamura,
  • 通讯作者:
    K. Yamamura,
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