In-situ Röntgen-Diffraktometer

有机Halbleiter werden in d<s:1> nnen Schichten (einige nm他的einige hundert nm) untersucht and Bauelementen angewandt。模具结构形态学分析与模具功能分析。过敏症是一种不受控制的疾病möglich，在受控的情况下，疾病是一种不受控制的疾病Veränderungen fhren kann。荷兰人死于比荷兰人更严重的疾病，而荷兰人死于可控的疾病。[2]魏氏空气动力学与空气动力学研究[j] möglich， [j]。Schließlich bietet das Gerät noch die Möglichkeit, die Morphologie der Schichten under dem Einfluss der temperature and der konzation von eingelassenen gasförmigen Stoffen in situ zu untersuchen。Mit diesem Gerät erhalten die f<e:1> nf Forschergruppen des DC-IAPP völlig neue Möglichkeiten f<e:1> r ihre Forschung and organischen Halbleitern。

Organische Halbleiter werden in dünnen Schichten (einige nm bis einige hundert nm) untersucht und in Bauelementen angewandt. Die Schichtmorphologie spielt für die Funktion der Bauelemente eine entscheidende Rolle. Allerdings war es bislang nicht möglich, diese in kontrollierter Weise zu untersuchen, da hierfür die Proben an Luft ausgeschleust werden mussten, was zu unkontrollierten Veränderungen führen kann. Durch die hier beantragte Anlage kann dies unter kontrollierten Bedingungen erfolgen. Weiterhin wird es auch erstmals möglich, Schichten von Bauelement-Strukturen in verschiedenen Stadien der Herstellung zu charakterisieren. Schließlich bietet das Gerät noch die Möglichkeit, die Morphologie der Schichten unter dem Einfluss der Temperatur und der Konzentration von eingelassenen gasförmigen Stoffen in situ zu untersuchen. Mit diesem Gerät erhalten die fünf Forschergruppen des DC-IAPP völlig neue Möglichkeiten für ihre Forschung an organischen Halbleitern.