Photoelektronenspektrometer mit Röntgen- und Ultraviolettlichtquelle (XPS/UPS)

Mit Hilfe . Röntgen-与紫外光电子光谱（XPS/UPS） können化学与电子特征图谱. Oberflächen定量不耦合研究。Eine solche Technik ist and der Universität Bayreuth nightvorhanden, so ass related Messungen nurr eingeschränkt außerhalb stattfinden können。冯十分Forschungsgruppen im德国der聚合物-和Kolloidwissenschaften Materialwissenschaften besteht konkreter Bedarf einem XPS / UPS Gerat。Die integrerte Clusterionensputterquelle ermöglicht zudem das kontrollierte Abtragen von inzelnen Schichten, so dass Tiefenprofile einer Probe erstellt werden können。Die Elementanalyse （z.b.b Stöchiometrie von verbundhalbleintern）也为Die Analyse der elektronischen Struktur （z.b.b Austrittsarbeit and ionisierung势能）、Die grole ße Rolle in laufenden project （z.b.b SFB840, Verbundprojekt Solartechnologies Go Hybrid）和beantragten project （z.b.b SFB840, Verbundprojekt Solartechnologies Go Hybrid）、Die siich mit elektronischen Materialien、der Morphologie von Polymerblends、Oberflächenfunktionalisierung和der Entwicklung neuer Kathalysatoren beschäftigen。Das XPS/UPS Gerät wind Bestandteil des Keylabs“器件工程”，einer untereheiten des Bayerischen聚合物研究所（BPI）和ist fakultätsübergreifend zugänglich f<s:1> r Wissenschaftler der Fachgebiete Chemie, Physik and Ingenieurwissenschaften。

Mit Hilfe der Röntgen- und Ultraviolettlicht Photoelektronenspektroskopie (XPS/UPS) können chemische und elektronische Eigenschaften von Oberflächen quantitativ untersucht werden. Eine solche Technik ist an der Universität Bayreuth nicht vorhanden, so dass relevante Messungen nur eingeschränkt außerhalb stattfinden können. Von vielen Forschungsgruppen im Bereich der Polymer- und Kolloidwissenschaften und Materialwissenschaften besteht konkreter Bedarf an einem XPS/UPS Gerät. Die integrierte Clusterionensputterquelle ermöglicht zudem das kontrollierte Abtragen von einzelnen Schichten, so dass Tiefenprofile einer Probe erstellt werden können. Die Elementanalyse (z.B. Stöchiometrie von Verbundhalbleitern) als auch die Analyse der elektronischen Struktur (z.B. Austrittsarbeit und Ionisierungspotential) spielt eine große Rolle in laufenden Projekten (z.B. SFB840, Verbundprojekt Solartechnologies Go Hybrid) und beantragten Projekten, die sich mit elektronischen Materialien, der Morphologie von Polymerblends, Oberflächenfunktionalisierung und der Entwicklung neuer Kathalysatoren beschäftigen. Das XPS/UPS Gerät wird Bestandteil des Keylabs "Device Engineering", einer Untereinheiten des Bayerischen Polymer Instituts (BPI) und ist fakultätsübergreifend zugänglich für Wissenschaftler der Fachgebiete Chemie, Physik und Ingenieurwissenschaften.