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Atomic-resolution three-dimensional imaging by field ion microscope with machine learning

Atomic-resolution three-dimensional imaging by field ion microscope with machine learning
通过场离子显微镜和机器学习进行原子分辨率三维成像
批准号：
20K05325
负责人：
Nagai Shigekazu
金额：
$2.83万
依托单位：
Mie University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2020
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2020-04-01 至 2023-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-20K05325/
关键词：
電界イオン顕微鏡機械学習表面構造観察表面分析トモグラフィーイメージング

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DOI： --
发表时间： 2021
期刊：
影响因子： --
作者： [Mizuki Yamada, Tadasuke Okazawa, Shigekazu Nagai and Koichi Hata]
通讯作者： Shigekazu Nagai and Koichi Hata
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DOI： 10.1380/ejssnt.2022-009
发表时间： 2022
期刊： e-Journal of Surface Science and Nanotechnology
影响因子： 0.7
作者： [Yamada Mizuki, Okazawa Tadasuke, Nagai Shigekazu, Hata Koichi]
通讯作者： Hata Koichi
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发表时间： 2021
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影响因子： --
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发表时间： 2021
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作者： [A. Yagmur, S. Sumi, H. Awano and K. Tanabe, 岡澤正将，山田瑞貴，疇地悠雅，中居栄斗，永井滋一，畑浩一]
通讯作者： 岡澤正将，山田瑞貴，疇地悠雅，中居栄斗，永井滋一，畑浩一
共 7 条
    Study on monochromatic electron beam emission from single crystalline Cr field emitters
    • 批准号：
      18K14125
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
    • 资助金额：
      $2.66万
    • 财政年份：
      2018
    • 负责人：
      Nagai Shigekazu
    • 依托单位：
      Mie University
    海外基金