Streak-Kamera-System

条纹相机系统

• 批准号: 361886954
• 金额: --
• 依托单位: Technische Universität Ilmenau
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Major Research Instrumentation
• 财政年份: 2017
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2016-12-31 至 无数据
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/361886954?language=en
• 关键词: Streak; Kamera; System

Das zu beschaffende Gerät soll spektroskopische Messungen an einer Vielzahl von Materialsystemen ermöglichen. Insbesondere soll das System dazu dienen, optoelektronische Eigenschaften, d.h. insbesondere Ladungsträgerlebensdauern, von klassischen III-V Halbleitern, verdünnten Nitriden, Materialien für die Photoelektrokatalyse und nanostrukturierten III-V Halbleitern zu vermessen. Des Weiteren wird angestrebt, das Streak-Kamera-System mit dem vorhandenen 4-Spitzen- Rastertunnelmikroskop zu kombinieren, um so einen einzigartigen experimentellen Zugang zu den optoelektronischen Eigenschaften von nanostrukturierten Halbleitern, insbesondere III-V Halbleitern zu schaffen. Aufgrund der kurzen Ladungsträgerlebensdauer ist für die Weiterentwicklung der neuen Materialien die Vermessung mit dem hier beantragten Streak-Kamera-System, das Photolumineszenzsignale im Bereich bis hinunter zu 1 ps detektieren kann, notwendig. Als Anregungsquelle wird, um alle genannten Materialsysteme adressieren zu können, ein durchstimmbarer Laser vorgesehen, der einen großen Teil des sichtbaren und nahen infraroten Spektralbereichs abdeckt. Die Streak- Kamera wird ebenfalls für optimale Empfindlichkeit im sichtbaren wie auch nahen infraroten Spektralbereich konfiguriert.

Das zu beschaffiliate Gerät soll spektroskopische Messungen an einer Vielzahl von Materialsystemen ermöglichen.光电子特性研究所的系统就是这样建立起来的。insbesondere Ladungsträgerlebensdauern，von klassischen III-V Halbleitern，verdünnten Nitriden，Materialien für die Photoelektrokatalyse und nanostrukturierten III-V Halbleitern zu vermessen.我们担心，条纹相机系统与4-Spitzen- Rastertunnelmikroskop的前处理组合，因此，一个实验组将用于纳米结构Halbleitern的光电子本征值，包括III-V Halbleitern。通过使用条纹照相机系统对新材料进行测试，可以获得高亮度的激光束，但不能在1 ps后检测到。所有现有的材料系统都将以激光束为光源，通过一个大的透镜和一个近红外的光谱反射器来实现。Streak- Kamera将为最佳的Emfindlichkeit im sichtbaren wird ebenfalls，就像在红外光谱仪中一样。