Investigation of atomic resolution imaging conditions for near-field optical microscopy detecting optical dipole forces
Investigation of atomic resolution imaging conditions for near-field optical microscopy detecting optical dipole forces
研究近场光学显微镜检测光学偶极力的原子分辨率成像条件
批准号：
18K19003
负责人：
Sugawara Yasuhiro
金额：
$4.08万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
财政年份：
2018
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2018-06-29 至 2020-03-31
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DOI：
10.1007/978-3-319-75687-5_14
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Y. Li;H. Wen;Zongmin Ma;Li Kou;Y. Naitoh;Y. Sugawara]
通讯作者：
Y. Li;H. Wen;Zongmin Ma;Li Kou;Y. Naitoh;Y. Sugawara
Scanning probe microscopy for functional materials
功能材料的扫描探针显微镜
功能材料的扫描探针显微镜
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
作者：
[山西絢介、内藤賀公, 李艶君、菅原康弘, 坂口浩司, H. Sakaguchi, Y. Sugawara]
通讯作者：
Y. Sugawara
Photoinduced Force Microscopy Imaging Using Heterodyne-FM Technique
使用外差调频技术的光诱导力显微镜成像
使用外差调频技术的光诱导力显微镜成像
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
作者：
[J. Yamanishi, Y. Naitoh, Y. J. Li, and Y. Sugawara]
通讯作者：
and Y. Sugawara
ケルビンプローブ力顕微鏡(KPFM)による半導体表面における原子スケール表面電位計測の進展
使用开尔文探针力显微镜（KPFM）测量半导体表面原子级表面电势的进展
使用开尔文探针力显微镜（KPFM）测量半导体表面原子级表面电势的进展
DOI：
--
发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Hirano Atsushi, Nagatoishi Satoru, Wada Momoyo, Tsumoto Kouhei, Maluf Karl N., Arakawa Tsutomu, 菅原康弘]
通讯作者：
菅原康弘
Atomic-Scale Spin Imaging on NiO(001) by Magnetic Resonance Force Microscopy (MRFM)
通过磁共振力显微镜 (MRFM) 对 NiO(001) 进行原子级自旋成像
通过磁共振力显微镜 (MRFM) 对 NiO(001) 进行原子级自旋成像
DOI：
--
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Z. Xu, Z. Pei, K. Kaushik, T. Kojima, S. Nobusue, H. Sakaguchi, Yasuhiro Sugawara and Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara and Yan Jun Li]
通讯作者：
Yasuhiro Sugawara and Yan Jun Li
共 13 条
Ultra-high resolution near-field optical microscopy using force detection and mechanism of atomic resolution observation of organic molecules
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批准号：20K21128
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项目类别：Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
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资助金额：$4.08万
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财政年份：2020
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负责人：Sugawara Yasuhiro
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依托单位：