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光学干渉非接触温度計測法によるデバイス自己発熱過程のイメージング技術に関する研究

光学干渉非接触温度計測法によるデバイス自己発熱過程のイメージング技術に関する研究
光学干涉非接触测温法器件自发热过程成像技术研究
批准号：
23K22824
负责人：
東 清一郎
金额：
$4.16万
依托单位：
Hiroshima University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2024
资助国家：
日本
项目状态：
未结题
起止时间：
2024-02-28 至 2026-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-23K22824/
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光学干渉非接触温度計測法によるデバイス自己発熱過程のイメージング技術に関する研究
  • 批准号：
    22H01554
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 资助金额：
    $11.4万
  • 财政年份：
    2022
  • 负责人：
    東 清一郎
  • 依托单位：
    Hiroshima University
マイクロ熱プラズマジェット照射による四族半導体単結晶ナノ薄膜成長
  • 批准号：
    22360126
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 资助金额：
    $8.57万
  • 财政年份：
    2010
  • 负责人：
    東 清一郎
  • 依托单位：
    Hiroshima University