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高性能三次元素子を目指したALD法による金属酸化物半導体の薄膜形成技術の研究

高性能三次元素子を目指したALD法による金属酸化物半導体の薄膜形成技術の研究
针对高性能三次元元素的ALD法金属氧化物半导体薄膜形成技术研究
批准号:
23K23226
负责人:
浦岡 行治
金额:
$3.41万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份:
2024
资助国家:
日本
项目状态:
未结题
起止时间:
2024-02-28 至 2025-03-31
关键词:

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Research on thin film formation technology of metal oxide semiconductors by ALD method aiming at high-performance three-dimensional devices
  • 批准号:
    22H01958
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 资助金额:
    $11.15万
  • 财政年份:
    2022
  • 负责人:
    浦岡 行治
  • 依托单位: