Study of friction phenomena on nanoscale using atomic force microscopy combined with electron microscopy
Study of friction phenomena on nanoscale using atomic force microscopy combined with electron microscopy
原子力显微镜结合电子显微镜研究纳米尺度摩擦现象
批准号：
15K13275
负责人：
Naitoh Yoshitaka
金额：
$2.5万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
财政年份：
2015
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2015-04-01 至 2017-03-31
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3D Force Vector Detection above Ge(001)-c(4x2) Surface at Atomic Scale with Multi-Frequency Atomic Force Microscopy
使用多频原子力显微镜在原子尺度上对 Ge(001)-c(4x2) 表面进行 3D 力矢量检测
使用多频原子力显微镜在原子尺度上对 Ge(001)-c(4x2) 表面进行 3D 力矢量检测
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Y. Naitoh, Y. Sugawara]
通讯作者：
Y. Sugawara
Force vector mapping of tip-surface interaction visualized by multi-frequency AFM
通过多频 AFM 可视化尖端与表面相互作用的力矢量映射
通过多频 AFM 可视化尖端与表面相互作用的力矢量映射
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Y.Naitoh,Y. J. Li, Y.Sugawara]
通讯作者：
Y.Sugawara
Atomic-resolution Simultaneous Imaging of Topography, Surface Potential and Dipole Moment on TiO2(110) Surface
TiO2(110) 表面形貌、表面电势和偶极矩的原子分辨率同步成像
TiO2(110) 表面形貌、表面电势和偶极矩的原子分辨率同步成像
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[古川 雅子, 上田 浩, 浜元 信州, 中村 素典, and 山地 一禎, Y. Sugawara]
通讯作者：
Y. Sugawara
多周波数モード原子間力顕微鏡による探針試料間弾性力ベクトルの3次元マッピング
使用多频模式原子力显微镜对尖端和样品之间的弹力矢量进行三维映射
使用多频模式原子力显微镜对尖端和样品之间的弹力矢量进行三维映射
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[内藤賀公, 李艶君, 菅原康弘]
通讯作者：
菅原康弘
Tip-surface potential derived from three force components using multi-frequency AFM
使用多频 AFM 从三个力分量导出尖端表面电势
使用多频 AFM 从三个力分量导出尖端表面电势
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara]
通讯作者：
Yasuhiro Sugawara
共 8 条
Investigation of surface phonon and local surface proiperties at atomic scale with atomic force microscopy
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批准号：26286007
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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资助金额：$10.32万
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财政年份：2014
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负责人：Naitoh Yoshitaka
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依托单位：
海外基金