Hochtemperatur Röntgenbeugung mit Eigenspannungs- und Texturmessung

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Mit der beantragten XRD ist es möglich, Phasenbildungen in Glasschmelzen und Phasenumwandlungen in Glaskeramiken und Glas-Keramik-Komposite-Werkstoffen zu untersuchen. Ebenso können funktionale Schichten auf den eingangs erwähnten Materialien charakterisiert und optimiert werden. Die Phasenanalyse unter entsprechend hohen Temperaturen in der Glasschmelze oder während der Keramisierung von Glaskeramiken kann effizient nur mit solch einem XRD-Gerät durchgeführt werden. Im Bereich der Beschichtungsfragestellungen sind Kenntnisse über den (Eigen-) Spannungs- und Texturzustand der Proben und Schichten ausschlaggebend, besonders die Untersuchung von Spannungsrelaxation und Spannungsaufbau bei hohen Temperaturen. Solche Textur- und Eigenspannungsermittlungen sind ebenso nur mit einem derartigen XRD Gerät möglich.