Röntgenbeugung Diffraktometer

X射线衍射仪

• 批准号: 405694402
• 金额: --
• 依托单位: Technische Universität Berlin
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Major Research Instrumentation
• 财政年份: 2018
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2017-12-31 至 无数据
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/405694402?language=en
• 关键词: ntgenbeugung; Diffraktometer

Der Schwerpunkt unserer Forschungsarbeiten im Fachbereich „Technologie für Dünnschicht-Bauelemente“ (TFD) liegt auf der Erforschung und Entwicklung neuer Dünnschichtsysteme für Anwendungen in elektronischen und optoelektronischen Bauteilen. Die Erforschung innovativer Depositionsprozesse und neuer Materialien und Schichtsysteme gehen in dem 2012 neu gegründeten Fachbereich Hand in Hand. Die Analyse der materialwissenschaftlichen Probleme mit den Methoden der Dünnschicht-Charakterisierung ist hier von großer Bedeutung. Für die Schichtherstellung und anwendungsbezogene Tests sind wir bereits hinreichend gut aufgestellt, nicht jedoch für die materialwissenschaftliche Charakterisierung. Hier bietet die TU Unterstützung im Bereich der Mikroskopie (ZELMI), der chemischen Charakterisierung und im Bereich der Halbleiter-Charakterisierung, das äußerst wichtige Feld der Strukturuntersuchungen an Dünnschichtsystemen mittels Röntgenbeugung (XRD) ist jedoch nur aufwändig über externe Kooperationspartner zugänglich. Der Aufbau eines für dünne Schichten ausgelegten Röntgen-Diffraktometers ist von zentraler Wichtigkeit nicht nur für unsere Arbeit, sondern auch für thematisch benachbarte Fachgebiete.

Der Schwerpunkt unserer Forschungsarbeiten im Fachbereich “Technologie für Dünnschicht-Bauelemente” (TFD) 是在电子和光电子设备中研究和开发新的 Dünnschichtsysteme。 Die Erforschung 创新者 Depositionsprozesse 和 neuer Materialien und Schichtsysteme gehen in dem 2012 neu gegründeten Fachbereich Hand in Hand。材料科学问题的分析与Dünnschicht-Charakterisierung 的方法是更重要的。对于材料科学特性的测试和测试。 Hier bietet die TU Unterstützung im Bereich der Mikroskopie (ZELMI), der chemischen Charakterisierung and im Bereich der Halbleiter-Charakterisierung, das äußerst wichtige Feld der Strukturuntersuchungen and Dünnschichtsystemen mittels Röntgenbeugung (XRD) ist jedoch努尔 aufwändig über 外部合作伙伴 zugänglich。 Der Aufbau eines für dünne Schichten ausgelegten Röntgen-Diffraktometers ist von zentraler Wichtigkeit nicht nur für unsere Arbeit, sondern auch für thematic Benachbarte Fachgebiete.