Global damage monitoring by IC tag destruction
Global damage monitoring by IC tag destruction
通过 IC 标签销毁进行全局损坏监控
批准号：
15K14157
负责人：
SHIRAIWA TAKAYUKI
金额：
$2.5万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
财政年份：
2015
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2015-04-01 至 2017-03-31
中文摘要
翻译
点击翻译按钮获取中文摘要
英文摘要
期刊论文(4)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
登录
查看更多内容
榎研究室ホームページ
Enoki实验室主页
Enoki实验室主页
DOI：
--
发表时间：
期刊：
影响因子：
--
作者：
[]
通讯作者：
Sensor properties of smart stress-memory patch fabricated from nanocrystalline ED Ni
由纳米晶 ED Ni 制成的智能应力记忆贴片的传感器特性
由纳米晶 ED Ni 制成的智能应力记忆贴片的传感器特性
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Pornthep Chivavibul, Takayuki Shiraiwa, Takao Murakami, Manabu Enoki, Takemoto Takahashi]
通讯作者：
Takemoto Takahashi
金属薄膜におけるき裂発生による電気特性変化を用いた疲労センサの検討
利用金属薄膜中裂纹萌生引起的电性能变化研究疲劳传感器
利用金属薄膜中裂纹萌生引起的电性能变化研究疲劳传感器
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[佐々木 翼, 白岩 隆行, Pornthep Chivavibul、榎 学, 高橋 勇統]
通讯作者：
高橋 勇統
低サイクル疲労評価用金属薄膜疲労センサの開発
用于低周疲劳评估的金属薄膜疲劳传感器的开发
用于低周疲劳评估的金属薄膜疲劳传感器的开发
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[佐々木 翼, 白岩 隆行, Pornthep Chivavibul、榎 学, 高橋 勇統]
通讯作者：
高橋 勇統
Statistical modeling of fatigue crack initiation in multiphase microstructure
-
批准号：19K15308
-
项目类别：Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
-
资助金额：$2.66万
-
财政年份：2019
-
负责人：SHIRAIWA TAKAYUKI
-
依托单位：
Fatigue prediction of dual-phase microstructure by data-driven approach
-
批准号：17K14832
-
项目类别：Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
-
资助金额：$2.75万
-
财政年份：2017
-
负责人：SHIRAIWA TAKAYUKI
-
依托单位：
Impact of permafrost degradation on the discharge of dissolved iron in the Amur River basin
-
批准号：15H05208
-
项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
-
资助金额：$9.07万
-
财政年份：2015
-
负责人：SHIRAIWA TAKAYUKI
-
依托单位：