Development of Local Semiconductor Crystalline Quality Estimation Method by Electron Back Scatter Diffraction

电子背散射衍射局部半导体晶体质量评估方法的发展

基本信息

  • 批准号：
    16K13675
  • 负责人：
    Hanafusa Hiroaki
  • 金额：
    $ 2.41万
  • 依托单位：
    Hiroshima University
  • 依托单位国家：
    日本
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
  • 财政年份：
    2016
  • 资助国家：
    日本
  • 起止时间：
    2016-04-01 至 2019-03-31
  • 项目状态：
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量（2）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
菊池線パターン解析による結晶欠陥評価の研究
基于菊池线图分析的晶体缺陷评价研究
  • DOI：
  • 发表时间：
    2017
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    沖　昴志;花房　宏明;東　清一郎
  • 通讯作者：
    東　清一郎
菊池線パターン解析によるSi結晶内の欠陥量評価法の開発
开发利用菊池线图案分析评价硅晶体缺陷量的方法
  • DOI：
  • 发表时间：
    2019
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    花房　宏明
  • 通讯作者：
    花房　宏明
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Hanafusa Hiroaki其他文献

A girl with CLOVES syndrome with a recurrent PIK3CA somatic mutation and pancreatic steatosis
患有 CLOVES 综合征的女孩，伴有复发性 PIK3CA 体细胞突变和胰腺脂肪变性
  • DOI：
    10.1038/s41439-019-0063-9
  • 发表时间：
    2019
  • 期刊：
    Human Genome Variation
  • 影响因子：
    1.5
  • 作者：
    Hanafusa Hiroaki;Morisada Naoya;Nomura Tadashi;Kobayashi Daisuke;Akasaka Yoshinobu;Ye Ming Juan;Nozu Kandai;Nishimura Noriyuki;Iijima Kazumoto;Nakao Hideto
  • 通讯作者：
    Nakao Hideto

Hanafusa Hiroaki的其他文献

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  • 批准号：
    14750067
  • 财政年份：
    2002
  • 资助金额：
    $ 2.41万
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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作者：{{ showInfoDetail.author }}

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