Developing three-dimensional measurement method for nano- and atomistic structures using focal series of aberration-corrected transmission electron microscopy images
Developing three-dimensional measurement method for nano- and atomistic structures using focal series of aberration-corrected transmission electron microscopy images
使用像差校正透射电子显微镜图像的焦点系列开发纳米和原子结构的三维测量方法
批准号：
16K13688
负责人：
Yamasaki Jun
金额：
$2.41万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
财政年份：
2016
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2016-04-01 至 2018-03-31
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会议论文
Precise measure of the depth resolution in aberration-corrected TEM
像差校正 TEM 中深度分辨率的精确测量
像差校正 TEM 中深度分辨率的精确测量
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Jun Yamasaki, Koh Saitoh, and Nobuo Tanaka]
通讯作者：
and Nobuo Tanaka
結像系収差補正電子顕微鏡（収差補正TEM）を駆使した微細構造解析手法の進展
充分利用像差校正电子显微镜（像差校正TEM）的微观结构分析方法的进展
充分利用像差校正电子显微镜（像差校正TEM）的微观结构分析方法的进展
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
触媒
影响因子：
--
作者：
[奥山裕磨, 杉山裕弥, 平原徹, 山﨑 順]
通讯作者：
山﨑 順
Developing the electron tomography for correct reconstructions of three-dimensional shape and density of materials based on elucidation of the multiple scattering phenomenon of electron beams
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批准号：19H02600
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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资助金额：$11.56万
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财政年份：2019
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负责人：Yamasaki Jun
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依托单位：
Quantitative visualization of nanometer-scaled electromagnetic fields by a novel phase-imaging method based on small-angle electron scattering patterns
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批准号：26600042
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项目类别：Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
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资助金额：$2.5万
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财政年份：2014
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负责人：Yamasaki Jun
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依托单位：
Development of electron diffractive imaging for phase observations from the atomic level to micron scale
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批准号：26286049
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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资助金额：$10.23万
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财政年份：2014
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负责人：Yamasaki Jun
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依托单位：