Fabrication of single-electron transistor by helium ion microscope

氦离子显微镜制备单电子晶体管

基本信息

  • 批准号：
    16K13732
  • 负责人：
    Kobayashi Takane
  • 金额：
    $ 2.33万
  • 依托单位：
    Institute of Physical and Chemical Research
  • 依托单位国家：
    日本
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
  • 财政年份：
    2016
  • 资助国家：
    日本
  • 起止时间：
    2016-04-01 至 2019-03-31
  • 项目状态：
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量（3）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
Measurement of the ampacity of a nanowire fabricated by electron beam-induced deposition
通过电子束诱导沉积制造的纳米线的载流量测量
  • DOI：
  • 发表时间：
    2016
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    小林　峰
  • 通讯作者：
    小林　峰
Fabrication and Characterization of Nanowires using a Helium Ion Microscope
使用氦离子显微镜制造和表征纳米线
  • DOI：
  • 发表时间：
    2016
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    小林　峰;小林　峰
  • 通讯作者：
    小林　峰
ユヴァスキュラ大学(フィンランド)
于韦斯屈莱大学（芬兰）
  • DOI：
  • 发表时间：
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
  • 通讯作者：
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