LEED 装置をもつ光電子測定装置の試作
LEED 装置をもつ光電子測定装置の試作
带有 LEED 设备的光电测量装置原型
批准号：
X41120-----51036
负责人：
加藤 益
金额：
$0.64万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
财政年份：
1966
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1966 至 --
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会议论文
固体表面解析方法としてのAPSの実用化に関する研究
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批准号：X00120----385054
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项目类别：Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
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资助金额：$2.56万
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财政年份：1978
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负责人：加藤 益
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依托单位：
APSスペクトルの精密測定および他の固体表面分析スペクトル
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批准号：X00090----155006
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项目类别：Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
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资助金额：$1.09万
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财政年份：1976
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负责人：加藤 益
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依托单位：
数KeVの回折電子およびAuger電子のエネルギー精密測定装置の試作研究
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批准号：X00120----785005
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项目类别：Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
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资助金额：$1.15万
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财政年份：1972
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负责人：加藤 益
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依托单位：
LEED装置をもつ光電子測定装置の試作(継2年)
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批准号：X42120-----51033
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项目类别：Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
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资助金额：$0.42万
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财政年份：1967
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负责人：加藤 益
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依托单位：