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固体表面解析方法としてのAPSの実用化に関する研究

固体表面解析方法としてのAPSの実用化に関する研究
APS作为固体表面分析方法的实际应用研究
批准号:
X00120----385054
负责人:
加藤 益
金额:
$2.56万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
财政年份:
1978
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
1978 至 1979
关键词:

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APSスペクトルの精密測定および他の固体表面分析スペクトル
  • 批准号:
    X00090----155006
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
  • 资助金额:
    $1.09万
  • 财政年份:
    1976
  • 负责人:
    加藤 益
  • 依托单位:
数KeVの回折電子およびAuger電子のエネルギー精密測定装置の試作研究
  • 批准号:
    X00120----785005
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
  • 资助金额:
    $1.15万
  • 财政年份:
    1972
  • 负责人:
    加藤 益
  • 依托单位:
LEED装置をもつ光電子測定装置の試作(継2年)
  • 批准号:
    X42120-----51033
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
  • 资助金额:
    $0.42万
  • 财政年份:
    1967
  • 负责人:
    加藤 益
  • 依托单位:
LEED 装置をもつ光電子測定装置の試作
  • 批准号:
    X41120-----51036
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
  • 资助金额:
    $0.64万
  • 财政年份:
    1966
  • 负责人:
    加藤 益
  • 依托单位: