权益分类	功能权益	普通用户	{{item.name}}会员
{{category.name}}	{{benefitItem.name}}

気流中の液膜破断現象の解明とモデル化

气流中液膜破裂现象的阐明和建模

基本信息

批准号：
21K14084
负责人：
大島逸平
金额：
$ 2.91万
依托单位：
Tohoku University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
财政年份：
2021
资助国家：
日本
起止时间：
2021-04-01 至 2024-03-31
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-21K14084/
关键词：
微粒化機構光学計測光学実験液膜微粒化可視化計測

项目摘要

液膜厚さの空間分布計測を実現するため、本年度は背景型シュリーレン法を導入して試験を進めた。昨年度末に実施したテスト計測では、ガラス板、アクリル板、シャボン膜をそれぞれ撮影していたため、本年度はまずそれら可視化画像群を用い、厚さ分布を把握できるかどうかを確認することとした。当初、背景画像と撮影画像から得られる画像相関をもとに撮影対象の厚さ分布を一意の関係があることを示せるのではないかと期待していた。そこで、背景画像と均一の厚みを持つアクリル板および曲率を持つガラス板の画像相関をそれぞれ取得した。これら画像相関と実際の厚さ分布を比較したところ、両者の類似性を見出すことはできなかった。そこで方針を見直すため、改めて文献調査を行い、画像相関と界面の局所勾配の間に相関があることを確認した。得られた界面の局所勾配を厚さ分布に変換する方法についても検討を行い、実際に実現可能かどうかの検証を行った。まず、いくつかの異なる焦点距離のレンズを撮影対象として、本手法の検証を行った。レンズと背景画像との画像相関を取得したところ、概ね意図した画像相関を得ていることを確認することができた。得られた画像をもとに正確な厚さ分布を得るため、引き続き、テスト計測で得た画像相関が適切に界面の曲率勾配を捉えられているのかの確認と、より正確な計測を可能とするセッティングを模索している。

The measurement of the spatial distribution of the liquid film thickness has been carried out. This year, the background type method has been introduced. At the end of last year, the measurement of visual images was carried out, and the distribution of visual images was confirmed The original, background, and background images were obtained from the images. For example, background images, uniform thickness, curvature, and image correlation can be obtained. By comparing the correlation between these portraits and their actual distribution, we can see the similarities between them. The policy was reviewed, reviewed, and verified. The interface is configured to be thick and distributed, and the method is changed. The method is discussed, and the actual implementation is possible. This method is used to detect and detect the image of the object. The background image is obtained from the background image. The correct thickness distribution of the obtained images can be obtained, the correlation between the images measured by the test meter can be appropriately confirmed, the curvature matching of the interface can be captured, and the correct measurement can be made possible.