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X線用気体フィルターを用いた蛍光X線同時計測分析法の開発

使用X射线气体过滤器的同时荧光X射线测量分析方法的开发

基本信息

批准号：
21K14655
负责人：
松山嗣史
金额：
$ 3万
依托单位：
Osaka Metropolitan University (2022)Osaka City University (2021)
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
财政年份：
2021
资助国家：
日本
起止时间：
2021-04-01 至 2025-03-31
项目状态：
未结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-21K14655/
关键词：
蛍光X線分析一次X線フィルター X線フィルター同時計測

项目摘要

蛍光X線分析法は未知試料の定量定性分析が可能な方法として有用である。一般に蛍光X線分析法では、試料とX線管の間に金属元素を導入することで、不要なX線をカットし、バックグランド強度の低いスペクトルを取得する。一般に固体もしくは薄膜として存在する元素のみが一次X線フィルターとして用いられてきたが、本研究では希ガス元素を一次X線フィルターとして採用可能な機構を開発し、装置を組み立てた。一次X線フィルターはベローズ型のチェンバーを改造することで作製した。本研究では、最初にチタンを標的元素に実験し、バックグランド強度の変化を観察した。また、チェンバー内のアルゴンの圧力も変動させた。その結果、アルゴンを導入することでアルゴンを導入する前のスペクトルと比較して、バックグランド強度が減衰した。今後は、バックグランド強度だけでなく、正味の蛍光X線強度(signal) とバックグランド強度(Background intensity)の比であるSB比の比較や検出下限(MDL: Minimum detection limit)の比較も行っていく。また、本研究ではアルゴンを気体フィルターとして用いたが、今後はクリプトンなどの他のガスを用いる実験を行う。この場合は標的元素をジルコニウムに設定し、バックグランドの評価を含め、SB比やMDLの比較も行っていく予定である。蛍光X線同時分析に関する研究も随時進めていく。

X-ray analysis is a useful method for quantitative and qualitative analysis of unknown samples. In general, X-ray analysis method is to introduce metal elements into the sample and X-ray tube, and not to obtain X-ray samples with low intensity. In general, there is a primary X-ray of the elements in the film. In this study, there is a primary X-ray of the elements. The first X-ray was used to modify the shape of the film. In this study, we investigated the change in the intensity of the initial target elements. The pressure in the tank is changed. The results of the study are as follows: 1. The results of the study are as follows: 1. In the future, the ratio of X-ray intensity (signal) to background intensity (Background intensity) of positive and negative flavor will be compared with the comparison of Minimum detection limit (MDL). This study will be conducted in the future. In this case, the target element is set to the list, and the evaluation of the target element is included. The comparison between the SB and the MDL is determined. X-ray simultaneous analysis is an important aspect of research.

项目成果

期刊论文数量（5）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

Spectrum prediction in X-ray fluorescence analysis using Bayesian estimation

使用贝叶斯估计进行 X 射线荧光分析中的光谱预测

DOI：
10.1016/j.sab.2022.106593
发表时间：
2023
期刊：
Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy
影响因子：
0
作者：
Matsuyama Tsugufumi;Nakae Masanori;Murakami Masashi;Yoshida Yukihiko;Machida Masahiko;Tsuji Kouichi
通讯作者：
Tsuji Kouichi

Evaluation of analysis volume in total reflection X‐ray fluorescence analysis

全反射X射线荧光分析中分析体积的评价

DOI：
10.1002/xrs.3335
发表时间：
2023
期刊：
X-Ray Spectrometry
影响因子：
1.2
作者：
Tsuji Kouichi;Taniguchi Naoya;Yamaguchi Hiroki;Matsuyama Tsugufumi
通讯作者：
Matsuyama Tsugufumi

Mathematical considerations for evaluating X-ray beam size in micro-XRF analysis

在微型 XRF 分析中评估 X 射线束尺寸的数学考虑

DOI：
10.1002/xrs.3325
发表时间：
2023
期刊：
X-Ray Spectrometry
影响因子：
1.2
作者：
Ogo Akitsu;Okayama Shotaro;Nakatani Masaya;Hashimoto Masahiko;Masanori Nakae; Tsugufumi Matsuyama; Hideyuki Ishi; Kouichi Tsuji
通讯作者：
Masanori Nakae; Tsugufumi Matsuyama; Hideyuki Ishi; Kouichi Tsuji

X‐ray fluorescence analysis using ultrasonic levitation technique

DOI：
10.1002/xrs.3337
发表时间：
2023-03
期刊：
X-Ray Spectrometry
影响因子：
1.2
作者：
Masakiyo Okuda;T. Matsuyama;K. Tsuji
通讯作者：
Masakiyo Okuda;T. Matsuyama;K. Tsuji

High-accuracy determination of trace elements by total reflection X-ray fluorescence spectrometry using freeze-dried specimens

使用冻干样品的全反射 X 射线荧光光谱法高精度测定微量元素

DOI：
10.1039/d2an01290a
发表时间：
2022
期刊：
The Analyst
影响因子：
0
作者：
Matsuyama Tsugufumi;Tanaka Yudai;Nakae Masanori;Furusato Takumi;Tsuji Kouichi
通讯作者：
Tsuji Kouichi