Data-driven information extraction of nanomaterials from electron microscopy
Data-driven information extraction of nanomaterials from electron microscopy
从电子显微镜中数据驱动的纳米材料信息提取
批准号：
21K14656
负责人：
DA Bo
金额：
$2.91万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
财政年份：
2021
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2021-04-01 至 2023-03-31
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DOI：
10.1016/j.apsusc.2022.153616
发表时间：
2022-05
期刊：
Applied Surface Science
影响因子：
6.7
作者：
[B. Da;X. Liu;J. Gong;Z.H. Zhang;Z. Ding;N. T. Cuong;H. Jin;J. Liu;Z. Gao;H. Guo;H. Wang;H. Zhang;Y. Harada;H. Yoshikawa;S. Tanuma]
通讯作者：
B. Da;X. Liu;J. Gong;Z.H. Zhang;Z. Ding;N. T. Cuong;H. Jin;J. Liu;Z. Gao;H. Guo;H. Wang;H. Zhang;Y. Harada;H. Yoshikawa;S. Tanuma
DOI：
10.1002/qute.202100063
发表时间：
2021-08
期刊：
Advanced Quantum Technologies
影响因子：
4.4
作者：
[K. Pandey;D. Mondal;J. Villanova;Joseph E. Roll;R. Basnet;A. Wegner;Gokul Acharya;Md Rafique Un Nabi;B. Ghosh;J. Fujii;Jian Wang;B. Da;A. Agarwal;I. Vobornik;A. Politano;S. Barraza‐Lopez;Jin Hu]
通讯作者：
K. Pandey;D. Mondal;J. Villanova;Joseph E. Roll;R. Basnet;A. Wegner;Gokul Acharya;Md Rafique Un Nabi;B. Ghosh;J. Fujii;Jian Wang;B. Da;A. Agarwal;I. Vobornik;A. Politano;S. Barraza‐Lopez;Jin Hu
Investigation of Ohmic Contact Resistance, Surface Resistance, and Channel Resistance for Hydrogen-Terminated Diamond MOSFETs.
氢端金刚石 MOSFET 的欧姆接触电阻、表面电阻和沟道电阻的研究。
氢端金刚石 MOSFET 的欧姆接触电阻、表面电阻和沟道电阻的研究。
DOI：
10.1109/ted.2022.3140699
发表时间：
2022
期刊：
IEEE Transactions on Electron Devices
影响因子：
3.1
作者：
[Jiangwei Liu, Hirotaka Ohsato, Bo Da, Yasuo Koide]
通讯作者：
Yasuo Koide
Data-driven information extraction of passivation layers in stainless steel from electron microscopy
从电子显微镜中提取不锈钢钝化层的数据驱动信息
从电子显微镜中提取不锈钢钝化层的数据驱动信息
DOI：
--
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
作者：
[DA Bo, LIU Jiangwei, YOSHIKAWA Hideki, TANUMA Shigeo]
通讯作者：
TANUMA Shigeo
DOI：
10.1063/5.0085984
发表时间：
2022-05-07
期刊：
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
影响因子：
3.2
作者：
[Da, B., Liu, X., Tanuma, S.]
通讯作者：
Tanuma, S.
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