強誘電超伝導体薄膜の歪制御と超伝導メモリへの応用

铁电超导薄膜的应变控制及其在超导存储器中的应用

• 批准号: 22K14607
• 负责人: 井上 悠
• 金额: $ 2.91万
• 依托单位: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
• 财政年份: 2022
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2022-04-01 至 2025-03-31
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-22K14607/
• 关键词: エピタキシャル薄膜; 超伝導; チタン酸ストロンチウム; 歪制御

本研究課題では、酸化物超伝導体チタン酸ストロンチウムを対象の系としている。チタン酸ストロンチウムの超伝導状態について、最近、強誘電転移近傍でその超伝導転移温度が大幅に上昇することが観測されており、本研究課題では、歪、および組成制御を通して、その超伝導増強機構を明らかにすることを目的にしている。特に、薄膜として作製することで、薄膜が持つ様々な自由度を利用することが可能となり、歪やその他の外場を利用して、チタン酸ストロンチウムの超伝導状態と強誘電転移を制御できれば、超伝導メモリ応用等、新機能素子応用への期待も期待できる。2022年度は、まず基板としてチタン酸ストロンチウムを用いて、パルスレーザー堆積法によりチタン酸ストロンチウムのエピタキシャル薄膜の作製を試みた。作製した薄膜の結晶性の評価はX線回折測定より行った。当初得られた薄膜は、格子歪に起因するX線回折スペクトルのブロードニングが観測された。これは格子欠陥の導入によるによるもので、成膜温度が800℃程度と比較的低温であったためと考えられる。そこで、成膜温度を1000℃程度まで上昇させるために、試料ホルダ―、および試料取り付け方法の改良を行い、成膜を行ったところ、格子歪に起因するスペクトルのブロードニングは消失し、基板とほぼ同一の薄膜ピークが得られた。成膜温度を上昇させることで、格子欠陥の少ないチタン酸ストロンチウム薄膜の作製が可能になったと言える。

This research topic is to study the relationship between acid and superconductivity. The temperature of the superconductivity in the medium, near and near the superconductivity increases significantly. Therefore, this research topic is aimed at improving the conductivity of the superconductivity mechanism. In particular, thin films can be used to control the degree of freedom of thin films, and other external fields can be used to control the strong induced electrical shift of thin films, and the expectation of new functional elements. In 2022, the preparation of thin films by the method of deposition was tested. Evaluation of Crystallization of Thin Films Prepared by X-ray Retrograde Measurement The X-ray reflection of the thin film and the lattice was detected. The film formation temperature is 800℃ and the temperature is relatively low. The film formation temperature increases to 1000℃, the sample temperature increases to 1000℃, and the sample preparation method improves. The film formation process increases to 1000 ℃. The lattice distortion causes the film to disappear. The substrate and the film are the same. The film formation temperature increases, and the lattice temperature decreases.