Nanoscale detection of atomic layer spin-valley polarized excitons and revealing its local dynamics

原子层自旋谷极化激子的纳米级探测并揭示其局域动力学

• 批准号: 22K14597
• 负责人: 茂木 裕幸
• 金额: $ 3万
• 依托单位: University of Tsukuba
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
• 财政年份: 2022
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2022-04-01 至 2025-03-31
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-22K14597/
• 关键词: 走査トンネル顕微鏡; スピン-バレー偏極励起子; 遷移金属ダイカルコゲナイド; 時間分解STM; スピン・バレー偏極; 超高速ダイナミクス; マルチプローブ

本研究では、光励起走査トンネル顕微鏡(STM)を用いて、2次元シート状半導体である遷移金属ダイカルコゲナイドにアクセスることで、円偏光電流からスピン-バレー偏極励起子状態をナノスケール検出するものである。本年度は、主に測定系の構築を行った。研究計画調書に課題として記載したように、長時間測定時の光照射位置ドリフトを補正する技術が必要だった。これに対し光照射点を安定化するフィードバック機構を、パターンマッチング技術を用いて開発することに成功した。また、偏光方向を変調し制御する上で顕微鏡内部に配置した光学素子の偏光応答が、変調時にアーティファクト信号を生成することが分かった。そのため、光学顕微鏡内部を一部改造し、試料近くに波長板を配置し、アーティファクトの発生を抑えることに成功した。また、本研究では試料面に対して鉛直方向だけでなく斜め方向からの光入射も行い、信号の比較をする。鉛直入射時には上記したフィードバック機構により照射位置を精密に制御可能であるが、斜入射時にはこの機構の実装が難しい。そこで、真空内の探針・試料の搭載されているバネ吊り除震台の同一板上にレンズを配置するよう装置部品の作製を行い、探針・試料接合とレンズの位置関係がずれない改善を行った。以上により、改善した測定系を用いて円偏光電流計測からスピン-バレー偏極励起子状態をナノスケール検出できるものと考えている。

In this study, the optical excitation device micrometer (STM) is used to move the metal, the two-dimensional semi-conductor, the polarizing current, the polarizing current and the actuator. This year, the master has determined that the department is responsible for this year's training program. To study the project of the project, to keep track of the situation, to determine the location of the light for a long time, and to correct the necessary technical requirements. The lighting system should be stabilized, and the equipment and technology should be used to ensure the success of the system. On the micrometer, the polarizer is equipped with the polarizer, and the signal is generated immediately. There is a transformation in the interior of the optical microphone, the material is close to the wave length plate configuration, and the optical system is in good condition. In this study, the material surface, the straight direction, the oblique direction, the incident light line and the signal ratio. When the target is directly incident, the equipment should be equipped with precision control of the exposure position of the equipment, and the equipment should be installed during the period of oblique incidence. The parts of the device are installed on the same board, and the parts of the device are installed in the same board. the parts of the device are used in the equipment, and the parts of the device are connected in the vacuum. The above measurement system is used to improve the performance of the polarizing current meter, the polarized current meter, the polarizing current meter, the

项目成果

Analysis of Trap-related Conduction Dynamics in Atomically Thin Materials by an Optically Excited Multiprobe Setup

通过光激发多探针装置分析原子薄材料中与陷阱相关的传导动力学

• 发表时间: 2022
• 作者: Hiroyuki Mogi;Zi-han Wang;Ibuki Kuroda;Yuhei Takaguchi;Yasumitsu Miyata;Atsushi Taninaka;Yusuke Arashida;Shoji Yoshida;Osamu Takeuchi and Hidemi Shigekawa
• 通讯作者: Osamu Takeuchi and Hidemi Shigekawa

STM探針光電子放出を利用した局所ポテンシャルダイナミクス評価

使用 STM 尖端光电​​子发射进行局部势动力学评估

• 发表时间: 2022
• 作者: 茂木 裕幸，若林 凜;嵐田 雄介;吉田 昭二;武内 修;重川 秀実
• 通讯作者: 重川 秀実

第二次高調波発生による二次元半導体材料の高精度結晶方位評価

利用二次谐波产生对二维半导体材料进行高精度晶体取向评估

• 发表时间: 2023
• 作者: Tian Yuan;Ukhtary M. Shoufie;Saito Riichiro;〇Hiromi Yamashita;清水 歩，茂木 裕幸，嵐田 雄介，吉田 昭二，武内 修，重川 秀実
• 通讯作者: 清水 歩，茂木 裕幸，嵐田 雄介，吉田 昭二，武内 修，重川 秀実

光技術コンタクト

光学技术联系方式

• 发表时间: 2022
• 作者: 茂木裕幸;重川秀実
• 通讯作者: 重川秀実