ベータ線を用いたX線に感度を持つCCDの空乏層厚の測定

使用 β 射线测量对 X 射线敏感的 CCD 耗尽层厚度

• 批准号: 25914005
• 负责人: 西岡 祐介
• 金额: $ 0.32万
• 依托单位: University of Miyazaki
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Encouragement of Scientists
• 财政年份: 2013
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2013-04-01 至 2014-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-25914005/
• 关键词: X線CCD; ベータ線

X線CCDにおいて厚い空乏層を持つことは、高エネルギー側の検出感度を向上できるという点で重要である。現在、厚い空乏層を持つ裏面照射型CCDの開発が進められており、空乏層厚を精密に測定することが非常に重要となっている。そこで、私は、空乏層厚を調べる手法として、ベータ線を用いた斜入射法に注目した。本研究では、斜入射法に用いるベータ線源の種類により、ベータ線が進む長さの比較することを目的とした。今回、用いたベ一タ線源は^<90>Srと^<207>Biの2つである。空乏層厚80μmのX線CCDに入射角が約19度になるようにベ一タ線源を設置し、得られたイメージからベータ線が進んだ長さを調べ、比較を行った。また、事前にGeant4というツールを用いてこの実験のシミュレーションでも比較を行うといった2種類の方法で検証を行った。実験やシミュレーションから得られたイメージはクーロン力による相互作用で曲がったイベントが多く含まれてしまうため、選別アルゴリズムで直進したイベントのみを取り出し、比較する対象に用いた。シミュレーション結果から、ベータ線が進んだ長さの平均は、^<207>Biが6.93ピクセル、^<90>Srが4.95ピクセルとなり、^<207>Biの方で空乏層内を直進しやすいことが分かった。実験結果からは、^<207>Biが6.23ピクセル、^<90>Srが6.66ピクセルとなり、線源による違いが確認できなかった。そこで、アルゴリズムの条件を厳しくし、より直進したもののみを選別することにした。その結果、^<207>Biが、6.35ピクセル、^<90>Srが5.51ピクセルとなり、今回も明らかな違いは生じなかった。シミュレーションと実験で結果が異なった原因は、分からなかったが、空乏層内を進む動きをシミュレーションでより詳細に再現し、アルゴリズムに適用させることによって、検証できるものと考える。本研究では、1つの角度でしか検証を行っていいないので、角度による影響が生じるかは、今後検討する必要がある。

X-ray CCD thin and thin depletion layer, high detection sensitivity, high detection sensitivity, high detection sensitivity, Now, it is very important to measure the thickness of the depletion layer accurately. The method of adjusting the thickness of the empty layer is to use the oblique incidence method. The purpose of this study is to compare the types of line sources and the length of line sources used in oblique incidence methods. Now back, with the middle of a line source ^Sr ^Bi 2.<90><207>The X-ray CCD with a depletion layer thickness of 80 μ m has an incident angle of about 19 degrees. In advance, Geant 4:1 - 2:1 - 3:1 - 1:1 - 2:1 - 1:1 - 2:1 - 1:1 - 2:1 The interaction between the two groups is very important. The interaction between the two groups is very important. The interaction between them is very important. The average length of the line is 6.93, Sr is 4.95, and Bi is 4.95.<207><90><207>The results are as follows: ^Bi = 6.23,^Sr = 6.66,^Bi = 6.23,^Sr = 6.66,^Bi = 6.23,^Sr = 6.23,^Sr = 6.66,^Sr = 6.6.66,^Sr<207><90>The conditions of the contract are as follows: Results,^Bi, 6.35,^Sr, 5.51, and today's results<207><90>The reasons for the differences in the results of the study are: 1. the reasons for the differences in the results of the study are: 1. the reasons for the differences in the results of the study are: 2. the reasons for the differences in the results of the study are: 3. the reasons for the differences in the results of the study are: 1. the reasons for the differences in the results of the study are: 2. the reasons for the differences in the results of the study are: 3. the reasons for the differences in the results of the study are: 3. the reasons for the differences in the results of the study are: 4. the reasons for the differences in the results of the study are: 3. the reasons for the differences in the results of the study are: 4. the reasons for the differences in the results of the study are: 3. the reasons for the differences in the results of the study are: 4. the reasons for the differences in the results of the study are: 4. the reasons for the differences in the results of the study are: 4. the reasons for the differences in the results of the study are: 4. the reasons for the differences in the results of the This research will be carried out from a single perspective, and the impact of the perspective will be significant, and future discussions will be necessary.

项目成果

ベ一タ線を用いたX線CCDの空乏層厚測定

使用 β 辐射测量 X 射线 CCD 的耗尽层厚度

• 发表时间: 2014
• 作者: Wada;Koji ; Tanaka;Hidekazu ; Okuzumi;Satoshi ; Kobayashi;Hiroshi ; Suyama;Toru ; Kimura;Hiroshi ; Yamamoto;Tetsuo;陶山徹;松田 和久;西岡 祐介
• 通讯作者: 西岡 祐介