レーザ光生成プラズマを核とする誘雷用電離チャネルの形成過程の解析-パルス電界印加を利用した荷電粒子の挙動測定-

以激光产生等离子体为核心的雷电电离通道形成过程分析 - 利用脉冲电场应用测量带电粒子的行为 -

• 批准号: 09780437
• 负责人: 竹野 裕正
• 金额: $ 1.15万
• 依托单位: Kobe University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
• 财政年份: 1997
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1997 至 1998
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-09780437/
• 关键词: レーザ誘雷; 衝撃波; LTSG

レーザ光生成プラズマを核とする誘雷用電離チャネルの形成過程を解析するべく,二年間の計画で研究を行った.主な成果の内容としては,レーザ光でプラズマ生成を行う電極間の位置に対する放電誘発確率の変化を捕らえたことと,パルス電界を印加することによる,レーザ光生成プラズマの時間変化の測定である.レーザ光生成プラズマに定常電界を印加する場合,適当な電界強度で印加電極間に放電が誘発される.このとき,放電誘発の確率がプラズマの生成位置で異なることを見い出した.この現象は,荷電粒子の移動度に対する衝撃波の影響を示唆している.この現象を追求するべく,プラズマ生成に伴って発生する衝撃波の伝搬過程を調べるために,圧カセンサを用いて伝搬時間を測定した.一方で,伝搬時間の測定結果を評価するために,レーザ光照射により発生する衝撃波の伝搬過程を計算する流体コードを整備した.実験結果をこのコードによる計算結果と比較したところ,極めてよい一致をみた.さらに,高圧半導体スイッチを用いたパルス高電圧発生装置を製作し,これを用いてパルス電界を印加することによってプラズマの応答(電極間に誘起される誘導電流)を測定した.高圧半導体スイッチが必ずしも仕様通りに動作しなかったために困難な測定となったが,電界印加時にのみ誘導電流を誘起し,それを測定することに成功した.プラズマ生成後比較的長時間(数十μs)経過後でも,誘導電流は大きな値を保っており,パルス的に印加することによる,純粋なプラズマの変化を抽出できたと考えられる.今後の方針として,パルス電界を印加したときの誘導電流の測定結果を充実させ,レーザ光生成プラズマの時間変化を追求して行く予定である.

In the course of the process analysis, we will plan to conduct research and study in the next two years. The main results are related to the content of the results, and the optical emission is used to generate the electrical energy, the location, the safety, the accuracy, the accuracy. The light generation system is used in the Indo-Canadian power industry, and when the power industry strength is high, the Indo-Canadian environment is highly sensitive. Please make sure that the location of the generation is in the wrong place. It's like an elephant, and the particles are moving, and the waves are showing that they are not moving. For example, the market is in pursuit of customer service, and the customer is in the process of operating in the market, which is measured by the operating time. On the one hand, the transfer time is measured and the results show that the temperature is not affected by light exposure, and the process of wave transfer is calculated to calculate the equipment cost. The results show that the calculation results are in good agreement with each other. The high-rise semi-conductor equipment is used as the equipment, and the electrical equipment is used to measure the electrical current. It is necessary for the high-end equipment to communicate the operation, the test, the test and the test. After a long period of time (tens of microseconds) after the generation, the direct current is used to ensure the safety of the computer, and the Indo-Canada system of the market is used to improve the performance of the system. In the future, the electronic industry will be responsible for determining the current measurement results, and the optical generation time will change to meet the requirements.