分散型組込み自己テストによる論理回路のテスト容易化に関する研究

基于分布式嵌入式自测试的逻辑电路可测试性研究

基本信息

  • 批准号:
    11750299
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 1.34万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
  • 财政年份:
    1999
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    1999 至 2000
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

LSIのテストを効率良く行う手法として組込みテスト回路を被テスト回路内に分散させて配置する手法について研究を行った.前年度は,被テスト回路内の1出現確率に応じた仮想的な弾性力を想定することでテスタビリティ解析する手法の検討を行った.今年度は,それを基に回路内をテスト容易化する手法についての検討を行った.テスト容易化する方策として,被テスト回路の電源投入時のある一定期間だけ,回路をテストモードに変更する手法を試みた.この手法は,トランジスタ,キャパシタ,マルチプレクサから成る簡単な付加回路を特定の信号線に分散して配置し,電源投入後の一定期間だけ1)信号線値を固定する,あるいは,2)論理ゲートの機能を変換する,というものである.この手法の目的は,組込み自己テスト(BIST)手法を適用する際に問題となる,検出困難な故障が仮定される信号線の可制御性・可観測性を向上させ,ランダムテストを行う際に必要となるテストパターン数を削減することである.また,テストポイント挿入する手法に比較して,大域的な付加配線を必要としない利点がある.提案した手法についてシミュレーション実験を行った結果,比較的小規模な回路に対しては,わずかな付加回路で必要なテストパターン数を大幅に削減可能であった.付加回路についてはFPGAを用いて設計を行った.しかし,被テスト回路が大規模になった場合,付加回路を配置する信号線の選択の問題・付加回路の増大などにより,有効な結果が得られておらず,今後の課題となっている.これらの問題を解決するため,現在,付加回路を挿入する信吾線の選択手法において,これまでの手法に加え,遺伝的アルゴリズムを用いた手法を検討している.これらの結果については,今後発表する予定である.
The LSI operation rate is good. The device is used to organize the loop. The loop is distributed in the loop. It is configured. In the previous year, the number of sexual forces in the loop was determined by the confirmation rate of 1% in the loop. This year, we are going to make it easier to make things easier in the loop. It is easy to make sure that the policy is improved, and the loop power supply is put into operation for a certain period of time, and the loop operation is completed. After a certain period of time after the power source is put into operation, 1) the signal signal is fixed, the signal is fixed, and the power supply is in a certain period of time. In order to improve the performance of the system, the BIST method is used to determine the reliability of the signal line, the testability of the signal line, the error of the signal line, the reliability of the signal line, and the improvement of the In order to improve the performance of the system, it is necessary to pay for the distribution of the large area. The proposed method does not affect the performance of the loop. compared to the small-scale loop, it is possible to reduce the number of necessary circuits. Pay-plus loop design FPGA to design a bank model. After being successfully combined by the large-scale model of the circuit, the signal switch of the configuration of the circuit is selected, and the problem is selected. If there is a problem, the result of the test is that the error is not correct. In order to solve the problem, now, the payment plus loop is inputted into the computer to believe that I have selected the method, which is the best way to solve the problem. The results show that the results are satisfactory, and the table is expected to be successful in the future.

项目成果

期刊论文数量(1)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
H.Tamamoto,K.Usami,K.Seki,H.Yokoyama: "A Non-Scan Testable Desigin of Sequential Circuits"Proc.of IEEE European Test Workshop. 321-322 (2000)
H.Tamamoto、K.Usami、K.Seki、H.Yokoyama:“时序电路的非扫描可测试设计”IEEE 欧洲测试研讨会论文集。
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  • 发表时间:
  • 期刊:
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    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
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  • 通讯作者:
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  • 通讯作者:
    Shyue-Kung Lu

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