X線パラメトリック変換と結合電荷密度の関係解明

阐明X射线参数转换与键合电荷密度之间的关系

• 批准号: 19654045
• 负责人: 玉作 賢治
• 金额: $ 2.11万
• 依托单位: The Institute of Physical and Chemical Research
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Exploratory Research
• 财政年份: 2007
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2007 至 2008
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-19654045/
• 关键词: 非線形光学; X線; パラメトリック変換; 結合電荷

本研究では、X線からX線と極端紫外光に分かれる(X→X+EUV)パラメトリック変換により結晶中の結合電荷密度を調べられるか否かを明らかにすることを目標とした。最終年度である平成20年度は以下の成果が得られた。1.装置の更なる改良を行い、試料位置で容易に集光を行えるようにした。また、試料を入れる真空チェンバーを完成させ、空気散乱を低減した低ノイズ測定が可能となった。2.様々な条件下でX線パラメトリック変換を高精度で測定することによって、パラメトリック変換がCompton散乱とFano干渉を起こしていることを明らかにした。同時に理論的考察を行い、この現象の定式化に成功した。また、X線パラメトリック変換が逆格子ベクトルQによる非線形回折によって実現されることの定式化も行った。これらを合わせて測定結果から2次の非線形感受率のQ番目のFourier成分の絶対値を見積もることに成功した。一方で、Fano効果を検討した結果、本研究でこれまで行ってきた測定配置では偏光因子で損をしていたことが明らかになった。この点は今後の測定精度向上の重要な指針となる。3.アイドラー光が100eVの場合について、最終的にQ=(1,1,1),(2,2,0),(2,2,2),(3,1,1),(4,0,0)に対して測定を行うことが出来た。こうして得られた様々なQに関する非線形感受率をFourier合成することで、非線形感受率の実空間像を再構築する予備的な試みに成功した。しかし、求まった実空間像は結合電荷とは異なる分布を示した。一方でアイドラー光のエネルギー依存性がQによって異なることも判明した。従って、X線パラメトリック変換と結合電荷との関係を議論するためには、広いエネルギー範囲で測定を行う必要があると考えられる。

In this study, X-ray diffraction (X-ray X+EUV) and X-ray diffraction (X-ray diffraction) were used to determine the effect of the combination of the density of charge on the surface of the crystal. The following achievements have been awarded in Pingcheng in the last year. 1. The device is easy to improve the line and position of the material to collect light. In the vacuum, the material is completed, the air is scattered, the temperature is low, and the measurement is possible. two。 Under the condition of high precision, it is necessary to determine the accuracy of the measurement, the measurement of high precision, the measurement of high precision. At the same time, according to the review of the theory, it seems that the formula is successful. X-ray, X-ray, anti-lattice, Q-shaped, non-linear, negative, negative. The results showed that the non-shape receptivity rate of Fourier components was significantly higher than that of the control group. Fano results show that the results of this study are related to the measurement and configuration of polarization factors. It is important to determine the accuracy of the measurement in the future. 3. The most popular 100eV is Q = (1), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), (2), ( The non-physical receptivity rate, the Fourier synthesis rate, the non-formal receptivity rate, the empty image, and the attempt success rate of the device were obtained. The distribution of electrical charge distribution is shown by the combination of the air image and the distribution of electricity and electricity. One party may tell you that it is not necessary to determine its dependence. It is necessary to conduct an examination of the necessary conditions for the determination of the range of temperature and energy required for the determination of the temperature range of the bank.

项目成果

Erratum : Interference between Compton Scattering and X-Ray Parametric Down-Conversion

勘误表：康普顿散射与 X 射线参量下转换之间的干扰

• 发表时间: 2009
• 期刊: Physical Review Letters 102
• 作者: T. Sanbongi;S. Katano;Y. Uehara;S. Ushioda;K. Kouyama;K. Kouyama;田先 雷太;Kenji Tamasaku
• 通讯作者: Kenji Tamasaku

X線パラメトリック変換の共鳴効果

X射线参数变换的共振效应

• 发表时间: 2009
• 作者: S.Kitagawa;Y.Nakai;T.Iye;K.Ishida;Y.Kamihara;M.Hirano;H.Hosono;星野晋太郎;Y. Ohgo et al.;玉作賢治,澤田桂,石川哲也
• 通讯作者: 玉作賢治,澤田桂,石川哲也

X→X+EUVパラメトリック変換のエネルギー・逆格子ベクトル依存性

X→X+EUV 参数变换的能量/倒易矢量依赖性

• 发表时间: 2007
• 作者: Y Taniguchi;Masaharu Matsunami;Akinori Irizawa;難波孝夫;A. Irizawa;Takao Nanba;難波孝夫;Takao Nanba;A. Irizawa;難波孝夫;難波孝夫;難波孝夫;難波孝夫;難波孝夫;入澤明典;島井幸太郎;Kenji Tamasaku;玉作賢治;Kenji Tamasaku;玉作賢治;玉作賢治;玉作賢治;玉作 賢治;Kenji Tamasaku;玉作 賢治
• 通讯作者: 玉作 賢治

X線非線形感受率のエネルギー依存性

X 射线非线性磁化率的能量依赖性

• 发表时间: 2009
• 作者: T. Sanbongi;S. Katano;Y. Uehara;S. Ushioda;K. Kouyama;K. Kouyama;田先 雷太;Kenji Tamasaku;D.Tatsumi;Kenji Tamasaku;玉作賢治
• 通讯作者: 玉作賢治

X線領域における非線形光学の新展開

X射线领域非线性光学的新进展

• 发表时间: 2008
• 期刊: 放射光 21
• 作者: Y Taniguchi;Masaharu Matsunami;Akinori Irizawa;難波孝夫;A. Irizawa;Takao Nanba;難波孝夫;Takao Nanba;A. Irizawa;難波孝夫;難波孝夫;難波孝夫;難波孝夫;難波孝夫;入澤明典;島井幸太郎;Kenji Tamasaku;玉作賢治
• 通讯作者: 玉作賢治