ファンフリンジモードLDVを用いた壁面せん断応力測定法の開発

扇形边缘模式LDV壁面剪应力测量方法的开发

• 批准号: 04650162
• 负责人: 益田 重明
• 金额: $ 1.41万
• 依托单位: Keio University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
• 财政年份: 1992
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1992 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-04650162/
• 关键词: 流体計測; 壁面せん断応力; ニュートン流体; 非接触測定

壁面せん断応力測定のためのファンフリンジモードLDVの開発の第一歩として、本年度は光学系の設計及び製作と信号処理系を含めた装置の動作検定を行った。送光部光学系の主な構成要素はレーザー光源(2Wアルゴンイオンレーザ)、ビームスプリッタプリズム、半反射鏡、集光レンズと光学スリットである。当初はレーザ光源から照射されるビームを2本に分割した後に光ファイバによって集光レンズに導くことを計画したが、本年度はビームの集光度と測定体積の光強度との基本的な関係を調べることに重点を置き、送光部光学系はプリズムと反射鏡のみの構成とした。一方、受光系は機動性を高めるために集光レンズ部と光電子増倍管を光ファイバで接続する構成とした。光学スリットには厚さ2mmの光学ガラス上の0.1μのクロム被膜に電子ビーム感光法により幅1μ、長さ400μのスリットを10μ間隔で2本平行に設けたものを用いた。2本のレーザビームを別々のスリットに集光することが予想以上に困難であったために、本年度は単一のビームをそのままスリット部に照射して測定体積の検証と受光部光学系の動作検定を行うにとどめた。干渉縞の確認には、スリットを設けた供試壁面に対して垂直な軸の周りを壁面からの任意の距離の平面上で回転させることができる光散乱装置を製作し、壁面からの距離1.2mmから4mmの範囲で散乱光の周波数変化を調べた。その結果、この測定領域での散乱光の周波数は100Hzから285Hzの間で壁面からの距離に比例して直線的に変化し、測定体積中の干渉縞が設計どおりに形成されていることが確認できた。本年度は動作原理の確認を行なったが、今後、測定体積の光強度を向上するためのスリットへの集光部の改良が最も重要であると考えられる。

The wall fracture force measurement system is used to determine the performance of the LDV. This year, the Department of Optics is responsible for the design and operation of the signal system, including the operation of the equipment. Department of Optics, Department of Optics. At the beginning, the light source was used to illuminate the light source. This year, the light source was used to measure the light intensity. This year, the light intensity measurement system was used to measure the light intensity. This year, the optical department of the Department of Optics, the Department of Optics. On the one hand, the light-receiving system is responsible for the collection of light photoelectrons. the optical system is connected to the optical system. The thickness of the optical device is very high. The thickness of the film on the 2mm optical device is 0.1 μ. The amplitude of the photosensitive method is 1 μ, and the length is 400 μ. The length of the device is 10 μ. Two parallel devices are used. 2. In this system, we are interested in the above information. This year, you will be able to measure the volume of the system, and the Department of Optics of the Department of Optics will determine the performance of the system. The equipment is used to verify that the wall surface is located vertically and vertically. The wall surface is located at any distance from the plane. The light scattering device is located in the range of 1.2mm and 4mm. The results of the test, the measurement of the number of scattered light cycles in the field, the number of 100Hz waves, the number of 285Hz waves, the verification of the straight line of the separation scale, and the temperature measurement device in the meter are used to make sure that the device is correct. This year, the principle of Action is to make sure that the light intensity is very important. In the future, the intensity of the light will be measured.