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超高圧電子顕微鏡内の試料温度の決定

超高圧電子顕微鏡内の試料温度の決定
超高压电子显微镜样品温度的测定
批准号:
X00095----365233
负责人:
友清 芳二
金额:
$0.29万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for General Scientific Research (D)
财政年份:
1978
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
1978 至 --
关键词:

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電子分光電子顕微鏡法によるSi中の酸素析出物の微細構造評価
  • 批准号:
    11123228
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas (A)
  • 资助金额:
    $0.64万
  • 财政年份:
    1999
  • 负责人:
    友清 芳二
  • 依托单位:
電子分光電子顕微鏡法によるSi中の酸素析出物の微細構造評価
  • 批准号:
    10136238
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas (A)
  • 资助金额:
    $0.83万
  • 财政年份:
    1998
  • 负责人:
    友清 芳二
  • 依托单位:
ナノプローブ電子分光型電子顕微鏡によるSi中の酸素析出相の微構造評価
  • 批准号:
    09242231
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
  • 资助金额:
    $1.54万
  • 财政年份:
    1997
  • 负责人:
    友清 芳二
  • 依托单位:
収束電子線回折法による半導体および機能性セラミックス材料の定量的評価
  • 批准号:
    62550477
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
  • 资助金额:
    $1.22万
  • 财政年份:
    1987
  • 负责人:
    友清 芳二
  • 依托单位: