Atmospheric-pressure plasma processes for high-rate film formation applicable for thin crystalline Si solar cells
Atmospheric-pressure plasma processes for high-rate film formation applicable for thin crystalline Si solar cells
批准号:
22246017
负责人:
KIYOSHI Yasutake
金额:
$20.88万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
财政年份:
2010
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2010-04-01 至 2014-03-31
中文摘要
为了在600℃下用大气压等离子体化学气相沉积技术稳定生长硅外延薄膜,研制了一种新的水冷电极系统。利用该系统,SiH4的利用率提高了2倍,利用较小的等离子体间隙抑制了输入功率,实现了高速生长,实现了对原位掺杂外延的精确控制。在400℃下,用AP He等离子体氧化硅制备了具有良好电学性能的SiO_2薄膜,并表现出良好的表面钝化质量。还开发了在露天条件下的AP-Ar等离子体氧化工艺,以形成高质量的SiO_2薄膜。
英文摘要
Atmospheric pressure (AP) plasma processes applicable for the formation of thin crystalline Si solar cells have been developed.For the stable growth of Si epitaxial films at 600 C by AP plasma chemical vapor deposition, a new water cooled electrode system was developed. By using this system, 2 times higher utilization efficiency of SiH4 than the previous one, the high-rate growth with the suppressed input power using a smaller plasma gap, and the precise control of in-situ doping epitaxy were achievable.SiO2 films with good electrical properties were grown at 400 C by AP He plasma oxidation of Si, and a good surface passivation quality was demonstrated. AP Ar plasma oxidation process under an open air condition has also been developed to form high quality SiO2 films.
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Formation of SiO2/Si structure with low interface state density by atmospheric-pressure VHF plasma oxidation
大气压VHF等离子体氧化形成低界面态密度的SiO2/Si结构
DOI:
10.1016/j.cap.2012.04.015
发表时间:
2012
期刊:
Current Appl. Phys
影响因子:
--
作者:
[Z. Zhuo, Y. Sannomiya, K. Goto, T. Yamada, H. Ohmi, H. Kakiuchi and K. Yasutake]
通讯作者:
H. Kakiuchi and K. Yasutake
大気圧プラズマ酸化による太陽電池用Si表面パッシベーション技術の開発―大気圧プラズマ酸化によるSiO2の低温高速形成―
常压等离子体氧化太阳能电池硅表面钝化技术的开发 - 常压等离子体氧化低温高速形成SiO2 -
DOI:
--
发表时间:
2012
期刊:
影响因子:
--
作者:
[S.Machida, など, 金谷優樹(安武潔)]
通讯作者:
金谷優樹(安武潔)
大気圧プラズマを用いたSi 薄膜形成
利用大气压等离子体形成Si薄膜
DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Takahiro Sekino, Satoru Takahashi, Kiyoshi Takamasu, 安武潔,大参宏昌,山田髙寛,垣内弘章]
通讯作者:
安武潔,大参宏昌,山田髙寛,垣内弘章
大気圧・超高周波プラズマの生成と Si およびその化合物の低温・高速成膜
常压/超高频等离子体产生及Si及其化合物的低温/高速沉积
DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
--
作者:
[吉清まりえ, 山田佳奈, 生井飛鳥, 大越慎一, T. Kimura, 吉田松生, 熊田智行, 垣内弘章]
通讯作者:
垣内弘章
大気圧VHFプラズマによるシリコン表面パッシベーションプロセスの開発
利用常压VHF等离子体开发硅表面钝化工艺
DOI:
--
发表时间:
2012
期刊:
影响因子:
--
作者:
[三宮佑太, 後藤一磨, 卓澤騰, 金谷優樹, 山田高寛, 大参宏昌, 垣内弘章, 安武潔]
通讯作者:
安武潔
共 34 条
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