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光化学系IIにおける光傷害の分子機構の研究

光系统II光损伤分子机制研究

基本信息

批准号：
05266221
负责人：
小野高明
金额：
$ 1.28万
依托单位：
The Institute of Physical and Chemical Research
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
财政年份：
1993
资助国家：
日本
起止时间：
1993 至无数据
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-05266221/
关键词：
光化学系II 光傷害電子伝達活性阻害剤活性酸系熱発光 Mn-クラスター

项目摘要

系II還元側:約10種類の電子伝達阻害剤について、その光傷害に対する効果を調べた。DCMUまたは、Atrazineの添加により光傷害による光化学系II電子伝達活性阻害の抑制が見られた。しかし、その他の大部分の電子伝達阻害剤は光傷害に対して、むしろ促進効果を示した。一方、活性酸素消去剤である、ヒスチジン、DABCO、Propyl Gallate、カタラーゼ、SODが存在しても光傷害にはほとんど影響を与えなかった。DCMUはpH6.5でトリプシン処理した系II膜では光傷害抑制効果を示さなかった。この結果は光傷害を抑制する為に、DCMUはQ_B-サイトへ結合している必要である事を示していた。また、抑制効果は好気条件下での光傷害に対する場合よりも大きかった。以上の結果より、DCMU、Atrazineが示す光傷害による活性阻害に対する保護効果は、Q_B-サイトに結合したこれらの阻害剤がQ_Aに直接影響する事によりQ_Aの機能阻害を抑制する事によると推定した。系II酸化側:Mn-クラスターを失った光化学系II酸化側における、光傷害部位の1つである熱発光A_T-バンド成分の損傷機構について検討した。強光照射によるA_T-バンド阻害はDCMUにより著しく抑制された。A_T-バンド阻害には酸素の存在が必要であり、嫌気条件下では阻害が起こらなかった。SODは強光照射によるA_T-バンド阻害に対しても抑制効果を示したが、その程度は弱光阻害の場合と比較して小さかった。以上の結果は系II酸化側の光傷害過程にO_2^-が重要な役割をはたしている事を示唆している。O_2^-はQ_B-サイトにおいて^3O_2が1電子還元を受けて生成する、とすると実験結果を矛盾なく説明できる。

The II system: about 10 percent of the electrical power plants have been used to prevent the production of electricity and light. The photochemistry department of the Department of Photochemistry, Department of Photochemistry, has achieved the activity of inhibiting the inhibition of DCMU and Atrazine by adding photoluminescence. Most of the electric power plants have reached the level of preventing light damage and promoting the production of electricity. On the one hand, the active acid eliminates the drug, DABCO, Propyl Gallate, Propyl Gallate, and SOD. There are light damage, light damage, and light damage. DCMU, pH6.5, light damage inhibition, light damage inhibition, light damage inhibition, The results showed that the light damage inhibition test was effective, and the DCMUA Q _ B-junction test combined with the necessary information to show that it was necessary to do so. Under the condition that the fruit is good, the light is harmful to the light. The results of the above results, DCMU, and Atrazine show that light damage, activity, protection, and Q _ A, in combination with Q _ A, can hinder the inhibition of the presumption of damage. It is the department of II acidizing: Mn- acidizing and losing photochemistry. the II acidizing temperature, the light damage site and the composition of the chemical compound A _ T are very sensitive to the light damage. Strong light is used to block the DCMU and suppress the noise. It is necessary to block the acid in the presence of necessary and disrelish conditions to block the acid. SOD, strong light irradiation, A _ T-irradiation, inhibition, inhibition, low light, low light. The above results show that the process of II acidizing light damage is O2 ^-the important service cutting process is a serious problem. O2^-Q _ B-this is not true for the 3O _ 2'1 computer, which is still affected by the failure. The result shows that there is a conflict between the two.