Analytical high performance (scanning)-transmission electron microscopeA-(S)TEM

新一代分析透射式电子显微镜通过简化操作而着迷，同时显著提高了分析能力。使用增加了可探测立体角的无窗口SDD探测器，能够检测到低至痕量元素水平(低至几个100ppm)的化学成分，以及低至氮等轻元素的化学成分。这种无窗口、高灵敏度的探测器将导致样品吞吐量的显著增加。在几分钟内就可以对完整的纤维蛋白切片进行详细的定量化学测绘。光学和化学的空间分辨率将达到原子尺度。通过使用特殊设计的样品夹，化学层析成像将成为可能。HAADF检测器与能量弥散分析相结合，可以快速、全面地概述样品。此外，电子能量损失谱(EELS)的使用将使元素指定成为可能，如价态(例如Fe2+/Fe3+)和配位(例如Si[4]/Si[6])。洛伦兹透镜将使磁性显微镜能够与上述方法相结合。最后，选定的区域衍射实验将完成对任何样品材料的综合表征。广泛而广泛的分析选项与高度简化的操作相结合，使新一代分析型TEMS革命性地改变了可能的用途，并允许非瞬变电磁专业人员使用这项技术。本提案中要求的新型仪器将用于大量主要是地学和物理项目。整合到“法兰克福电子显微镜中心-FCEM”将导致人员配备增加，中期将扩大到更广泛的用户群体，扩展到生物化学和生物物理学领域。我们正在进行一项新的技术试验，这是一项专门的技术研究，它是一项重要的技术手段，也是一项重要的技术手段。在“法兰克福电子显微镜中心-FCEM”中，人们将在生物化学和生物物理化学中获得更多的信息。

The next generation of analytical Transmission electron microscops captivates by a simplified operation and at the same time substantially improved analytical capabilities. The use of windowless SDD-detectors with increased detectable solid angle enables the detection of chemical compositions down to the trace element level (down to a few 100ppm) and towards light elements like nitrogen. The windowless, highly sensitive detectors will lead to a dramatic increase in sample throughput. Detailed quantitative chemical mapping of complete FIB-slices is possible within a few minutes. The spatial resolution for optical and chemical will reach the atomic scale. Chemical tomography will be possible by the use of specially design sample holders. A HAADF detector together with energy-dispersive analytics will allow a fast and comprehensive overview of the sample. In addition, the use of Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS), will enable element specification like valences (e.g. Fe2+/Fe3+) and coordination (e.g. Si[4]/Si[6]). A lorentz lense will enable magnetic microscopy which can be combined with the above mentioned methods. Finally, selected area diffraction experiments will complete the comprehensive characterization of any sample material.The wide and extensive analytical options in combination with highly simplified operation of this next generation analytical TEMs revolutionize the possible uses and allows access to this technique for non TEM-specialists.The novel instrument requested in this proposal will be used in a high number of primarily geoscientific and physical projects. The integration into the „Frankfurt Center of Electron Microscopy – FCEM“ will lead to a high staffing and on medium term to a wider user group extended to the fields of biochemistry and biophysics.Magnetische Mikroskopie ist durch kleinere Erweiterungen eine weitere wichtige Methodik, die mit den oben benannten chemischen Verfahren kombiniert wird. Letztendlich rundet die Durchführung von Feinbereichsbeugungsexperimenten die vollständige Charakterisierung der Proben ab.Die weitreichenden analytischen Optionen in Verbindung mit der deutlich erleichterten Bedienung der neuen Generation analytischer TEMs revolutionieren die Einsatzmöglichkeiten und erlauben auch nicht auf diese Technik spezialisierten Wissenschaftlern den Zugang.Das hier beantragte Instrument soll in einer Vielzahl von primär geowissenschaftlichen und physikalischen Projekten eingesetzt werden. Die Eingliederung in das „Frankfurt Center of Electron Microscopy – FCEM“ wird zu einer personell guten Ausgestaltung führen und mittelfristig die Nutzergruppe in die Bereiche der Biochemie und Biophysik erweitern.