多価ECRイオン源のX線分光による診断

多价 ECR 离子源的 X 射线光谱诊断

• 批准号: 07218202
• 负责人: 関口 雅行
• 金额: $ 1.28万
• 依托单位: The University of Tokyo
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
• 财政年份: 1995
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1995 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-07218202/
• 关键词: 多価イオン; X線; ECRイオン源

多価ECRイオン源は、強力なX線発生源であり,そのX線がイオン源の動作状態についての状報を担っていることが知られている。本研究は,そのX線を分光することにより,ECRイオン源における多価イオンの発生メカニズムを探り,多価ECRイオン源の診断を行うことを目標としている。これまでの測定で(1)X線スペクトルは500keV以上,800keV位まで達している。(2)このX線は,主としてECRによって加速された電子が,プラズマ容器と衝突する際に発生する制動輻射による。(3)プラズマ容器中の発生源の探査では,X線強度が測定方向に強く依存する。ことがわかった。尚,小型Si(Li)X線検出器による線スペクトルの測定は成功するに至っていない。本年度の大部分は,これまでに測定されたスペクトルの解析とその解釈に当てられたが,今後も更に続けて行うことにしている。

Multiple ECR source, strong X-ray source, X-ray source, action status, status This study aims to detect the source of ECR and to diagnose the source of ECR by X-ray spectroscopy. These measurements are as follows: (1) X-ray emission is above 500keV and 800keV. (2)The X-ray emission is mainly caused by ECR acceleration, and the emission of bremsstrahlung is mainly caused by ECR acceleration. (3)The X-ray intensity is strongly dependent on the direction of measurement for the detection of the source of the gas in the container.ことがわかった。A small Si(Li) X-ray detector was successfully used to determine the X-ray properties. For the most part, this year's survey was conducted on the basis of the analysis and analysis of the results, and it will be conducted in the future.

项目成果

M.Sekiguchi: "Summary of 12th International ECRIS Workshop(1995)" Rev.Sci.Instrum. 67(to be published). (1996)

M.Sekiguchi：“第 12 届国际 ECRIS 研讨会摘要（1995 年）”Rev.Sci.Instrum。