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化学的物理的表面修飾による有機新構造の探索と評価

通过化学和物理表面改性寻找和评估新的有机结构

基本信息

批准号：
07241238
负责人：
磯田正二
金额：
$ 1.02万
依托单位：
Kyoto University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
财政年份：
1995
资助国家：
日本
起止时间：
1995 至无数据
项目状态：
已结题

项目摘要

本研究の目的は、有機分子デバイス構築への基礎的な研究として、分子レベルでの構造や状態の操作法の開発にある。そのために、有機超薄膜を分子レベルで物理的にまた化学的に修飾する事で構造や状態を改変し超構造を構築しようとするものである。平成7年度は以下の点について研究を行った。1.有機超薄膜の形成(1)超構造形成のキャンパスともいえる有機超薄膜を形成するための方法としては、結晶性・配向性に優れた薄膜が得られるエピタキシャル成長法が最適である。しかし、有機分子のエピタキシャル成長については、その構造形成機構については不明な点があったので、まずその検討を行った。その結果、有機分子と基板結晶との間にはポイントオンライン整合性という特殊な結晶学的な整合性がみられることを見いだした。(2)上記のポイントオンライン整合性を利用して、様々な有機分子について配向性のよい薄膜を形成した。特にフタロシアニン系などの分子において、ナノメーターオーダーの間隔で並ぶ分子カラムを形成でき、各分子カラムは修飾のための分子ピクセルを提供してくれることがわかった。これらの薄膜について、ハロゲンによる化学的修飾・電子線による物理的修飾に伴う光学的な特性についての解析を購入備品等で行い、修飾による物性の変化を明らかにしている。2.超薄膜評価の新手法の開発超薄膜の解析方法として、電子線エネルギー損失分光法と結像法を開発した。この方法によれば、極微小試料についてもその構成元素の分析と各原子の結合状態の分析が可能となり、超薄膜の解析には非常に有効な方法であることがわかり、今後の展開が期待される。

The purpose of this study is to carry out the research on the basis of organic molecular analysis and the state-of-the-art operation method of molecular biology. In the field of mechanical ultrathin film, molecular engineering, physics, chemistry, physics, chemistry, chemistry, physics, chemistry, physics, chemistry, chemistry, In Pingcheng 7, the following points are required for research and research. 1. The formation of organic ultra-thin films (1) the formation of ultra-thin films, the formation of ultra-thin films. It is necessary for the establishment of an organization to register an unknown location, to register an unknown location, to register an operator, and to register an operator. The results of the test, the results of the organic molecular substrate, the results of the organic molecular substrate, the results of the results, the results. (2) the integration of the upper equipment is formed by the use of organic molecules to form a thin film. The purpose of this paper is to analyze the molecular structure, the molecular structure and the molecular structure. Thin films, chemical repairs, cable physics, physics, optical properties, optical properties, physical properties, optical properties, physical properties, etc. two。 A new method for the analysis of ultra-thin films is used for the analysis of ultra-thin films, and the image method is used for the analysis of ultra-thin films. The method is accurate, the material is very small, and the elements are analyzed. The atoms are combined with the state analysis, the ultrathin film is analyzed, and the method is very useful.