权益分类	功能权益	普通用户	{{item.name}}会员
{{category.name}}	{{benefitItem.name}}

X線磁気散乱によるペロブスカイト型マンガン酸化物の電荷整列相の研究

X射线磁散射研究钙钛矿型氧化锰的电荷排列相

基本信息

批准号：
08227213
负责人：
有馬孝尚
金额：
$ 1.47万
依托单位：
University of Tsukuba
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
财政年份：
1996
资助国家：
日本
起止时间：
1996 至无数据
项目状态：
已结题

项目摘要

層状ペロブスカイト型マンガン酸化物La_<1-X>Sr_<1+X>MnO_4系において放射光X線回折を利用して電荷、スピン、軌道のそれぞれの秩序についての研究を行い、以下のことを明らかにした。1.x=0.5の組成を持つ試料についてa)本来の格子系の2倍、および、4倍の周期に対応するX線超格子反射を観測した。b)超格子反射の強度のX線エネルギー依存性を測定した。マンガンのK吸収端付近で共鳴を示すことを測定し、マンガンの3d電子に由来する秩序状態であることを明らかにした。c)超格子反射のX線の入射方向依存性を測定した。4倍周期に対応する超格子反射の強度は入射方向に対して著しく変化し、縮退した3d_γ軌道の整列(軌道交替秩序)に由来するものであることが分かった。一方、2倍周期に対応する超格子反射は入射方向依存性がほとんどなく、3価と4価のマンガンイオンの整列(電荷整列)に起因する。d)超格子反射強度の温度変化を測定した。電荷整列、軌道整列にいずれに対応する超格子についても、電気抵抗の急峻な変化が見られる温度(およそ220K)から低温側で2次転移的に強度が増加することが分かった。2.x=0の組成を持つ試料についてa)反強磁性相でX線超格子反射を観測した。これはX線磁気散乱によるものであり、遷移金属酸化物系では初めての観測となる。b)磁気超格子反射と基本反射との強度比較より、スピンの熱平均値が0.65μ_Bと見積もられ、イジング的な描像よりかなり小さい。c)磁気超格子反射の半値幅より、磁気相関長を精度よく求めることに成功した。マンガンと酸素からなる2次元面内では1000オングストローム程度であり、結晶全体に反強磁性秩序がひろがっていることがわかる。

Layered structure of La_Sr_<1 + X> MnO_4 system is studied in order to make use of X-ray reflection of radioactive light.<1-X>1. X = 0.5 for the composition of the sample, a) 2 times, 2 times, 4 times the period of the original lattice system, X-ray superlattice reflection measurement b) Determination of X-ray dependence of superlattice reflection intensity. The resonance of the absorption terminal is measured. c) Measurement of the dependence of X-ray incidence direction on superlattice reflection. The intensity of the 4-fold periodic superlattice reflection varies according to the direction of incidence, and decreases according to the origin of the 3d_γ orbital alignment (orbital alternating order). Superlattice reflection is caused by the dependence of incident direction on one or two times the period of reflection. d) Measurement of temperature variation of superlattice reflection intensity. Charge alignment, orbit alignment, etc. are included in the superlattice, and the electrical resistance increases rapidly from the temperature of 220 K to the intensity of the second shift on the low temperature side. 2. x = 0 and the composition of the sample is measured by X-ray superlattice reflection in antiferromagnetic phase. X-ray magnetic scattering, migration of metallic acid systems, etc. b) The intensity comparison between magnetic superlattice reflection and fundamental reflection is 0.65 μ B. c) Magnetic superlattice reflection half-value amplitude, magnetic correlation length accuracy, success. In the 2nd dimensional plane, there are 1000 degrees of antiferromagnetism in the crystal.