軌道放射光によるX線構造解析
軌道放射光によるX線構造解析
批准号:
12129206
负责人:
飯田 厚夫
金额:
$11.9万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
财政年份:
2000
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2000 至 2003
中文摘要
液晶相の構造を分子間相互作用に溯って理解するためには、液晶相の基礎物性の知識が不可欠である。特にスメクティック液晶を特徴付ける層構造解析および分子秩序の解析のためには、X線解析手法が最も有効である。本研究では、これまでの技術的発展に基づき、スメクティック液晶の局所層構造および層内秩序の電場に対する時間応答を放射光X線マイクロビーム時分割測定法により明らかにした。このことにより、液晶層の示す電気光学的応答に対応した動的液晶構造解析が可能になる。実験は高エネルギー加速器研究機構・物質構造科学研究所・放射光研究施設を利用して得られる放射光X線マイクロビーム光学系を用いて行った。試料は強誘電性液晶としてTK-C101を、反強誘電性液晶としてTFMHPOBCを使用した。本年度は本研究の総括の年に当たり、これまで明らかにしてきた層構造の動的空間構造のより精密な描像を得るためのデータを付け加えるとともに、分子間相互作用を反映した層内秩序の動的空間構造に関するデータを集積し、層内秩序と層間秩序の関係を総合的に明らかにした。動的局所層構造については、これまで研究を重ねてきたスメクティックA相における電傾効果の高電場下での層応答を詳細に測定し、バルクの層構造の挙動と配向膜に規制された界面近傍での局所層構造の関係を明らかにし、界面分子は高電場下で平衡状態から変位することが分かった。低電場下の挙動は固定した界面分子の挙動で説明が可能であり、また従来考えられてきた1次元の構造ではないことを始めて明らかにした。本システムにより、スメクティック液晶を特徴づける層間秩序および層内秩序の構造パラメータが、空間的に時間分割された形で得ることが世界的にみても始めて可能となった。
英文摘要
液晶相の構造を分子間相互作用に溯って理解するためには、液晶相の基礎物性の知識が不可欠である。特にスメクティック液晶を特徴付ける層構造解析および分子秩序の解析のためには、X線解析手法が最も有効である。本研究では、これまでの技術的発展に基づき、スメクティック液晶の局所層構造および層内秩序の電場に対する時間応答を放射光X線マイクロビーム時分割測定法により明らかにした。このことにより、液晶層の示す電気光学的応答に対応した動的液晶構造解析が可能になる。実験は高エネルギー加速器研究機構・物質構造科学研究所・放射光研究施設を利用して得られる放射光X線マイクロビーム光学系を用いて行った。試料は強誘電性液晶としてTK-C101を、反強誘電性液晶としてTFMHPOBCを使用した。本年度は本研究の総括の年に当たり、これまで明らかにしてきた層構造の動的空間構造のより精密な描像を得るためのデータを付け加えるとともに、分子間相互作用を反映した層内秩序の動的空間構造に関するデータを集積し、層内秩序と層間秩序の関係を総合的に明らかにした。動的局所層構造については、これまで研究を重ねてきたスメクティックA相における電傾効果の高電場下での層応答を詳細に測定し、バルクの層構造の挙動と配向膜に規制された界面近傍での局所層構造の関係を明らかにし、界面分子は高電場下で平衡状態から変位することが分かった。低電場下の挙動は固定した界面分子の挙動で説明が可能であり、また従来考えられてきた1次元の構造ではないことを始めて明らかにした。本システムにより、スメクティック液晶を特徴づける層間秩序および層内秩序の構造パラメータが、空間的に時間分割された形で得ることが世界的にみても始めて可能となった。
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Y.Takahashi: "Dynamic behavior of the Loca Layer Structure of Antiferroelectric Liguid Crystals under High Electric Field measured by SRXRD"Jpn. J. Appl. Phys.. 40. 3294 (2001)
Y.Takahashi:“通过SRXRD测量的反铁电液晶在高电场下的Loca层结构的动态行为”Jpn。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
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作者:
[]
通讯作者:
Y.Takahashi: "Time resolved X-ray micro-diffraction measurements of the dynamic local layer response to electric field in AFLC"Mucl. Instr. & Meth. A. 467,468. 1001 (2001)
Y.Takahashi:“AFLC 中动态局部层响应电场的时间分辨 X 射线微衍射测量”Mucl。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
Y.Takahashi: "Dynamic Layer Response under Electric Field in Antiferroelectric liquid Crystal cells measured by synchrotron microbeam Time resolved…"Mol. Cryst. Liq. Cryst.. 365. 853 (2001)
Y.Takahashi:“通过同步加速器微束时间解析测量反铁电液晶细胞中的动态层响应……”Cryst.. 365. 853 (2001)
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
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作者:
[]
通讯作者:
Y.Takahashi: "Dynamic Behaviour of the Local Layer Structure of Antiferroelectric Liquid Crystals under a High Electric Field measured by SRXRD"Jpn.J.Appl.Phys. (印刷中).
Y.Takahashi:“通过 SRXRD 测量的高电场下反铁电液晶局部层结构的动态行为”Jpn.J.Appl.Phys(出版中)。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
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作者:
[]
通讯作者:
Y.Takahashi et al.: "Dynamic local layer response of surface stabilized ferroelectric liquid crystals to high electric field by time resolved X-ray diffraction."Phys.Rev.E. 67. 051706-1 (2003)
Y.Takahashi 等人:“通过时间分辨 X 射线衍射研究表面稳定铁电液晶对高电场的动态局部层响应。”Phys.Rev.E。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
共 7 条
蛍光X線画像再生法による高感度元素分布測定法の研究
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批准号:60750720
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项目类别:Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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资助金额:$0.51万
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财政年份:1985
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负责人:飯田 厚夫
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依托单位:
単色X線励起法による超微量蛍光X線分析
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批准号:59750613
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项目类别:Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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资助金额:$0.64万
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财政年份:1984
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负责人:飯田 厚夫
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依托单位:
海外基金