分光複屈折近接場光学顕微鏡の開発とナノマイクロ機構・材料の応力・配向評価への応用

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本研究では、申請者が世界に先駆けて開発した左右円偏光光源を用いた高速複屈折測定法を近接場光学顕微鏡に応用してナノ・マイクロマシンにおける構造材料や構造体の複屈折を非破壊的にかつ高空間分解能で評価測定できるシステムを開発することを目的とした。具体的には、高速複屈折測定法を照明型近接場光学顕微鏡に適用するために、それに用いる最適な光プローブの開発および分解能を評価するとともに、開発した装置を用いて各種の光学異方性をもつ試料を観測することで、様々なナノ・マイクロマシン材料の評価に対応できるシステムを開発する。最終年度に当たる今年度においては、開発した複屈折近接場光学顕微鏡の観測性能を評価するため、配向液晶薄膜を観測した。AFMプローブによって液晶薄膜をラビングすることで、液晶分子を直接配向させる現象を発見し、開発した複屈折近接場光学顕微鏡で評価することによってその配向特性を明らかにした。さらに、AFMプローブの走査密度を1ミクロンあたり1本程度と低くすることで、格子状の液晶配向パターンを作成および観測することに成功した。さらに、1度ラビングした方向と直角方向に再ラビング出来ることを示した。本手法は、液晶のラビングにける配向メカニズムを明らかに出来る可能性を示すとともに、新規な配向パターンを有する光情報デバイスの作成に有効となることが期待できる。以上の研究成果の他にも、高分子フィルム断面の応力分布の高分解能観測を行い、開発した複屈折近接場光学顕微鏡の有用性を明らかにした。