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Three-dimensional operando analysis of interfaces in organic semiconductor devices using synchrotron X-ray spectromicroscopy

Three-dimensional operando analysis of interfaces in organic semiconductor devices using synchrotron X-ray spectromicroscopy
使用同步加速器 X 射线光谱显微镜对有机半导体器件中的界面进行三维操作分析
批准号:
15K17463
负责人:
NAGAMURA Naoka
金额:
$2.33万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份:
2015
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2015-04-01 至 2018-03-31

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軟X線吸収分光によるキノンのレドックス反応過程での電子状態解析
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DOI: --
发表时间: 2016
期刊:
影响因子: --
作者: [谷木良輔, 北田祐太, 永村直佳, 本間格]
通讯作者: 本間格
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DOI: --
发表时间: 2015
期刊:
影响因子: --
作者: [Y. Kitada, N. Nagamura, R. Taniki and I. Honma, 永村直佳]
通讯作者: 永村直佳
DOI: 10.1088/2053-1591/3/7/075004
发表时间: 2016-07
期刊: Materials Research Express
影响因子: 2.3
作者: [Ryota Suto;G. Venugopal;K. Tashima;N. Nagamura;K. Horiba;M. Suemitsu;M. Oshima;H. Fukidome]
通讯作者: Ryota Suto;G. Venugopal;K. Tashima;N. Nagamura;K. Horiba;M. Suemitsu;M. Oshima;H. Fukidome
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DOI: --
发表时间: 2017
期刊:
影响因子: --
作者: [永村直佳, 北田祐太, 谷木良輔, 本間格]
通讯作者: 本間格
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