Development of depth-resolved soft X-ray absorption spectroscopy with fluorescence energy selection and observation of ionic conductor/ferro magnetic thin film interface
Development of depth-resolved soft X-ray absorption spectroscopy with fluorescence energy selection and observation of ionic conductor/ferro magnetic thin film interface
开发具有荧光能量选择和离子导体/铁磁性薄膜界面观察的深度分辨软X射线吸收光谱
批准号：
17K14324
负责人：
Suzuki-Sakamaki Masako
金额：
$2.66万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2017
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2017-04-01 至 2019-03-31
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蛍光収量型深さ分解XMCD法による磁性薄膜研究
使用荧光产量深度分辨 XMCD 方法研究磁性薄膜
使用荧光产量深度分辨 XMCD 方法研究磁性薄膜
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Katase Fumiya, Kajiyama Satoshi, Kato Takashi, 酒巻真粧子，雨宮健太]
通讯作者：
酒巻真粧子，雨宮健太
蛍光収量深さ分解XAFS法による外場中界面分析
使用荧光产量深度分辨 XAFS 方法进行外场界面分析
使用荧光产量深度分辨 XAFS 方法进行外场界面分析
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
作者：
[濱田篤, 高薮縁, 酒巻真粧子，雨宮健太]
通讯作者：
酒巻真粧子，雨宮健太
Observation of the electric-field effect in Fe/BaTiO3 thin films with the interface oxide layers
具有界面氧化层的 Fe/BaTiO3 薄膜电场效应的观察
具有界面氧化层的 Fe/BaTiO3 薄膜电场效应的观察
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[David Kuo, Satoshi Kajiyama, Takashi Kato, M. Sakamaki and K. Amemiya]
通讯作者：
M. Sakamaki and K. Amemiya
精密界面分析に向けた蛍光分光深さ分解XAFS法の開発
开发用于精确界面分析的荧光光谱深度分辨 XAFS 方法
开发用于精确界面分析的荧光光谱深度分辨 XAFS 方法
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Casner A., Rigon G., Albertazzi B., Michel Th., Pikuz T., Faenov A., Mabey P., Ozaki N., Sakawa Y., Sano T., Ballet J., Tzeferacos P., Lamb D., Falize E., Gregori G., Koenig M., M. Sakamaki and K. Amemiya, 酒巻真粧子，雨宮健太]
通讯作者：
酒巻真粧子，雨宮健太
Depth profile of surface oxidation on FeCo thin film by depth resolved X-ray absorption spectroscopy
通过深度分辨 X 射线吸收光谱法观察 FeCo 薄膜表面氧化的深度剖面
通过深度分辨 X 射线吸收光谱法观察 FeCo 薄膜表面氧化的深度剖面
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Taneda Hidenobu, Shundo Atsuomi, Matsuno Hisao, Tanaka Keiji, M. Sakamaki and K. Amemiya]
通讯作者：
M. Sakamaki and K. Amemiya
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