Analytische Durchstrahlungselektronenmikroskopie im Angström-Bereich für Materialwissenschaft und Technik

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Die aberrationskorrigierte Transmissionselektronenmikroskopie ist nicht nur technisches, sondern auch methodisches Neuland. Der Koeffizient der sphärischen Aberration der Objektivlinse, Cs, kann mit Hilfe des Korrektorelements zwischen dem Ausgangswert des unkorrigierten Mikroskops und dem Wert 0 variiert und sogar negativ gemacht werden. Dies macht völlig neuartige Abbildungsmoden möglich, beispielsweise reiner Amplitudenkontrast bei Cs=0. Die neuen Möglichkeiten sind von beträchtlichem Interesse für die Materialforschung. Sie sind aber bislang weder experimentell noch theoretisch genauer untersucht worden. Dies soll im Rahmen des vorgeschlagenen Projektes erfolgen. Die Arbeit soll gleichzeitig durch die Konzentration des Knowhows in einer Person eine kompetente Betreuung auswärtiger Nutzer des CM200 SAC und einen Transfer der elektronenoptischen und methodischen Erfahrungen und Ergebnisse in das von der DFG geförderte SATEM-Projekt sicherstellen. Nach der Installation von SATEM im Herbst 2002 und der Uminstallation des CM200 SAC an der Humboldt-Universität sollen die Testphasen dieser Geräte mit dieser materialwissenschaftlichen Arbeit kompetent begleitet werden.