Untersuchung der geometrischen, elektronischen und chemischen Struktur von Quasikristalloberflächen

准晶表面的几何、电子和化学结构研究

• 批准号: 5384728
• 负责人: Professor Dr. Knut W. Urban
• 金额: --
• 依托单位: PGI-5: Mikrostrukturforschung
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Priority Programmes
• 财政年份: 1997
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 1996-12-31 至 2003-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5384728?language=en
• 关键词: Untersuchung; der; geometrischen; elektronischen; und

Die geometrischen und elektronischen physikalischen Eigenschaften sowie die Entwicklung der chemischen Zusammensetzung von Quasikristalloberflächen sollen mittels Rastertunnelmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie, Photoelektronen-Spektroskopie und Auger-Elektronen-Spektroskopie untersucht werden. Ziel ist es dabei, die auf Spaltoberflächen von ikosaedrischen Al-Pd-Mn Quasikristallen festgestellten Eigenschaften für andere Oberflächen zu bestätigen, um zu ermitteln, inwieweit die Effekte auf die quasikristalline Ordnung, die Cluster-Struktur oder sonstige Eigenschaften zurückzuführen sind.Für die Untersuchungen sollen in einem ersten Schritt die chemische Zusammensetzung mittels eines kalibrierten Auger-Elektronen-Spektroskopie Systems von gesputterten und geheizten AlPd-Mn Oberflächen ermittelt werden. In einem zweiten Schritt soll die elektronische Struktur von Al-Pd-Mn Quasikristallen in Hinblick auf die Existenz von Oberflächenzuständen und auf die Symmetrie der Oberflächen untersucht werden. Die gleichen Methoden sollen dann im letzten Arbeitsschritt auf andere Materialien, z.B. dekagonale Quasikristalle oder Approximantensysteme soweit verfügbar, angewandt werden.

几何学和电子物理学的特征在于，准基督徒的化学合成可以包括光栅显微镜、光栅显微镜、光电显微镜和俄歇-电子显微镜韦尔登。这是一个很大的问题，即在Al-Pd-Mn合金的准晶体结构上形成最佳的和最佳的上表面，从而影响准晶体结构的有序性，die carter-Struktur oder sonstige Eigenschaften zurückzuführen sind.Für die Untersuchungen sollen in einem ersten Schritt die chemische Zusammensetzung mittels eines kalibrierten Auger-Elektronen-Spektroskopie Systems von gesputterten und geheizten AlPd-我的上甲板韦尔登。Al-Pd-Mn准晶体的电子结构在两种情况下都能在上平面的对称性和上平面的对称性上得到韦尔登。这种简单的方法只能在材料上进行。在拟线性或近似系统中，我们可以看到韦尔登。