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オージェ電子分析を用いた電子顕微鏡試料の超微量元素検出の研究

オージェ電子分析を用いた電子顕微鏡試料の超微量元素検出の研究
俄歇电子分析法检测电镜样品中超痕量元素的研究
批准号：
X00210----875011
负责人：
上田 一之
金额：
$0.17万
依托单位：
Osaka University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份：
1973
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1973 至 --
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-X00210----875011/
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高速の電子励起イオン脱離法による結晶表面欠陥の生成・消滅程の動的観察
  • 批准号：
    04205090
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
  • 资助金额：
    $1.15万
  • 财政年份：
    1992
  • 负责人：
    上田 一之
  • 依托单位：
    Osaka University
高速の電子励起イオン脱離法による結晶表面欠陥の生成・消滅過程の動的観察
  • 批准号：
    03205081
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
  • 资助金额：
    $1.41万
  • 财政年份：
    1991
  • 负责人：
    上田 一之
  • 依托单位：
    Osaka University
高速の電子励起脱離法による結晶表面欠陥の生成・消滅過程の動的観察
  • 批准号：
    02205078
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
  • 资助金额：
    $1.54万
  • 财政年份：
    1990
  • 负责人：
    上田 一之
  • 依托单位：
    Osaka University
角度分解型電子衝撃イオン脱離法による新生表面の局所構造の研究
  • 批准号：
    63609512
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
  • 资助金额：
    $1.28万
  • 财政年份：
    1988
  • 负责人：
    上田 一之
  • 依托单位：
    Osaka University