Research on easily self-testable arithmetic circuits with online error detection capability

具有在线错误检测能力的易自测试运算电路的研究

基本信息

  • 批准号:
    25730033
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 2.08万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
  • 财政年份:
    2013
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2013-04-01 至 2016-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量(3)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
部分二重化を用いたオンライン誤り検出可能な浮動小数点乗算器の設計と評価
使用部分复制进行在线错误检测的浮点乘法器的设计和评估
  • DOI:
  • 发表时间:
    2015
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    鬼頭信貴;秋元一志;高木直史
  • 通讯作者:
    高木直史
Low-Overhead Fault-Secure Parallel Prefix Adder by Carry-Bit Duplication
通过进位复制实现低开销故障安全并行前缀加法器
剰余検査を用いたオンライン誤り検出可能な浮動小数点乗算器
使用余数检查进行在线错误检测的浮点乘法器
  • DOI:
  • 发表时间:
    2013
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    山口大樹;鬼頭信貴;高木直史
  • 通讯作者:
    高木直史
{{ item.title }}
{{ item.translation_title }}
  • DOI:
    {{ item.doi }}
  • 发表时间:
    {{ item.publish_year }}
  • 期刊:
  • 影响因子:
    {{ item.factor }}
  • 作者:
    {{ item.authors }}
  • 通讯作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ monograph.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ sciAawards.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ conferencePapers.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ patent.updateTime }}

KITO Nobutaka其他文献

KITO Nobutaka的其他文献

{{ item.title }}
{{ item.translation_title }}
  • DOI:
    {{ item.doi }}
  • 发表时间:
    {{ item.publish_year }}
  • 期刊:
  • 影响因子:
    {{ item.factor }}
  • 作者:
    {{ item.authors }}
  • 通讯作者:
    {{ item.author }}

相似海外基金

VLSIのテストとテスト容易化設計
VLSI测试和可测试性设计
  • 批准号:
    99F00747
  • 财政年份:
    2000
  • 资助金额:
    $ 2.08万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
VLSIのテスト用ランダムパターンの生成法に関する研究
如何生成用于VLSI测试的随机模式的研究
  • 批准号:
    05680248
  • 财政年份:
    1993
  • 资助金额:
    $ 2.08万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
{{ showInfoDetail.title }}

作者:{{ showInfoDetail.author }}

知道了