Mikroanalyse höchster Auflösung von magnetischen Funktionsschichten der Sensortechnik

传感器技术磁性功能层最高分辨率的微分析

• 批准号: 5207600
• 负责人: Professor Dr. Guido Schmitz
• 金额: --
• 依托单位: Abteilung für Materialphysik
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Research Grants
• 财政年份: 1999
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 1998-12-31 至 2004-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5207600?language=en
• 关键词: Mikroanalyse; chster; Aufl; sung; von

Magnetische Mehrfachschichtsysteme basierend auf {NiFe/Cu} mit Spuren von Ag- und Co-Atomen an den Grenzflächen sollen mit der Zeit höchstauflösende Analysemethoden, der tomographischen Atomsonde, den Ummagnetisierungsprozessen und dem Magnetotransportverhalten aufgedeckt werden. Dazu werden mit einem neuartigen Verfahren Schichtsysteme zu Probenspitzen für die Feldionenmikroskopie mittels Elektronenstrahl-Lithographie präpariert. Die Mikrostruktur der Schichtsysteme soll über unterschiedliche Herstellungsbedingungen und Wärmebehandlungen varriert werden. Gleichzeitig werden die Proben chemisch und strukturell charakterisiert und ihr magnetisches Verhalten untersucht. Der Einfluß von Grenzflächenrauigkeit, Schichtdurchbrüchen, Reaktionsphasen oder Grenzflächensegregationen auf den Magnetotransport soll aufgeklärt und darauf aufbauend Strategien für eine mögliche Optimierung dieser technisch interessanten Schichten entwickelt werden.

基于NiFe/Cu的磁感应系统，采用银和钴原子的溅射，并通过时间分析方法、层析成像原子探测器、磁化处理和磁输运探测器来解决磁场问题。该系统可用于韦尔登。Dazu韦尔登与一个新的Verfahren Schichtsysteme zu Probenspitzen für die Feldionenmikroskopie mittels Elektronenstrahl-Lithographie präpariert。Schichtsysteme的Mikrostruktur soll über unterscheedliche Herstellungsbedingungen und Wärmebehandlungen varriert韦尔登。Gleichzeitig韦尔登该探针的化学和结构特性及其磁性测试。Der Einfluenza von Grenzflächenrauigkeit，Schichtdurchbrüchen，Reaktionsphasen or der Grenzflächensegregationen auf den Magnetotransport soll aufgeklärt und darauf aufbauend plugien für eine mögliche Optimierung dieser technisch interessanten Schichten entwickelt韦尔登.