Mikroanalyse höchster Auflösung von magnetischen Funktionsschichten der Sensortechnik

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Magnetische Mehrfachschichtsysteme basierend auf {NiFe/Cu} mit Spuren von Ag- und Co-Atomen an den Grenzflächen sollen mit der Zeit höchstauflösende Analysemethoden, der tomographischen Atomsonde, den Ummagnetisierungsprozessen und dem Magnetotransportverhalten aufgedeckt werden. Dazu werden mit einem neuartigen Verfahren Schichtsysteme zu Probenspitzen für die Feldionenmikroskopie mittels Elektronenstrahl-Lithographie präpariert. Die Mikrostruktur der Schichtsysteme soll über unterschiedliche Herstellungsbedingungen und Wärmebehandlungen varriert werden. Gleichzeitig werden die Proben chemisch und strukturell charakterisiert und ihr magnetisches Verhalten untersucht. Der Einfluß von Grenzflächenrauigkeit, Schichtdurchbrüchen, Reaktionsphasen oder Grenzflächensegregationen auf den Magnetotransport soll aufgeklärt und darauf aufbauend Strategien für eine mögliche Optimierung dieser technisch interessanten Schichten entwickelt werden.