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平面波X線顕微法および二結晶回折計によるロッシェル塩ドメイン構造の研究

利用平面波X射线显微镜和双晶衍射仪研究罗谢尔盐域结构

基本信息

批准号：
60580048
负责人：
石田興太郎
金额：
$ 0.9万
依托单位：
Tokyo University of Science
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
财政年份：
1985
资助国家：
日本
起止时间：
1985 至 1986
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-60580048/
关键词：
強誘電体 X線トポグラフロッシェル塩

项目摘要

水溶液より除冷法によって、ロッシェル塩の単結晶を作成し、その強誘電相のドメイン構造を非対称反射を利用した平面波X線トポグラフおよび二結晶回析計を用いて調べた。得られた主なる結果は下記の通りである。1.C-プレートの強誘電相において、b-ドメイン領域でブラッグピークが二つに分裂することを発見、この分裂の原因が強誘電相における単斜晶系のせん断歪みによることを確認した。またこの分裂の角度の温度依存性を測定し、自発分極の測定と比較した。2.電界をかけることにより、b-ドメインの二つのピークの大きさが変ることを認め、これが各ドメインの体積に比例するとして、そのヒステリシス曲線を求めた。3.C-プレートの強誘電相において、ブラッグピークが三つに分裂する場合、各ピークによるトポグラフを撮り、これより各ピークが双晶関係にある二つのb-ドメインとC-ドメインに対応することを確認した。4.ドメイン壁に通常のものより強い歪みを伴ったものが存在し、この分壁は電界をかけても移動しずらいことを観察した。またこの強い歪みを伴った分壁は相転移に対しても比較的に再現性があることも認められたが、この歪みの原因についてはまだ不明である。5.結晶内の欠陥のX線トポグラフによる観察では、インクルージョンによる点状欠陥、いわゆるすだれ構造あるいはトンネル構造による線状欠陥、結晶成長のセクター間の微小角粒界による面状欠陥等は見られたが、転位像に相当するものは発見できなかった。

The aqueous solution is cooled to form a single crystal, and the strongly induced phase is modulated by asymmetric reflection using plane wave X-ray diffraction and two-crystal analysis. The result is that you can write down the name of the person you love. 1. C-phase induced phase, b-phase induced phase, b-phase induced phase induced The temperature dependence of the splitting angle was measured and compared. 2. The electric field is divided into two parts: the first part is divided into two parts: the second part is divided into two parts: the third part is divided into two parts: the fourth part is divided into three parts: the fourth part is divided into four parts: the fourth part is divided into four 3. In case of strong inductive phase of C-terminal, the separation of each phase is determined, and the b-terminal is determined. 4. The wall of the wall is usually strong and the wall of the wall is moving. The reason for this deviation is unclear. 5. The X-ray defect in the crystal is observed as a linear defect in the structure of the crystal, a planar defect in the structure of the crystal, and a corresponding defect in the image.