高速イオン-固体薄膜衝突における多重放出2次電子の研究

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1.多重放出二次電子相関器を設計し、制作に取り掛かった。(1).大口径マルチチャンネルプレート(77mmφ)を購入し、その出力部にマルチアノード(96チャンネル)を設置した。(2).上記のマルチアノードからの出力を取り出すため、超高速プリアンプ(【t_R】<1ns)を設計試作した。(3).時間情報をとりだすため市販のものより数倍早いTAC(time to digital converter)を設計制作した。(4).上記(1)〜(3)により得られる時間情報及び位置情報を取り込むためのdata処理系を導入した。2.予備実験として、イオン-固体薄膜衝突に於ける放出二次電子の数分布を測定した。従来二次電子イールドとして平均値に関する報告例はあったが、その数分布について測定したのは今回がほぼ初めてと言える。現在までのところ、(1)高速陽子イオン(0.4-2.5MeV)については、二次電子イールドが2-3の場合でも電子を一つも放出しない確率が数10%もあること、(2)二次電子イールドは標的膜の出口表面付近でのエネルギー損失に関係しており、分子イオンを使い入射エネルギーや標的膜厚を変えることにより、クラスターイオンのエネルギー損失について核間距離依存性に関する情報が得られること、(3)重イオンについては、二次電子の数分布はその出射荷電状態に依存すること、等がわかった。3.次年度には、上記多重放出二次電子相関器を完成し、いろいろな衝突系に応用することを目指す。これにより荷電粒子-固体相互作用に関する種々相、とくに特に固体内に誘起されるwake potentialに関する情報が得られるものと期待される。