多層膜超伝導体の上部臨界磁場に関する研究

多层超导体上临界磁场研究

• 批准号: 61550476
• 负责人: 小尾 俶久
• 金额: $ 1.15万
• 依托单位: Tohoku University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
• 财政年份: 1986
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1986 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-61550476/
• 关键词: 多層膜; 超伝導体; スパッタ; 上部臨界磁場; ニオブチタン合金

本研究は多層膜超伝導体の上部臨界磁場の挙動を調べ、更に現在最も実用に供されているNbTi合金極細多心線を凌ぐものが得られるかを調べる事にある。我々が以前より研究しているNb/Ti多層膜の研究により多層膜ではbulkのものより上部臨界磁場(【H_(C2)】)を高める事が見出され、この結果に基いて研究を推し進めている所である。具体的な継過、成果を以下に示す。1.NbTiを基とした多層膜の作製………本所にあるマルチターゲットスパッタ装置を用いてNbTi/Ti、NbTi/Nb多層膜をNbTiの組成比を【Nb_(65)】【Ti_(35)】、【Nb_(28)】【Ti_(72)】と変え、更に積層周期(λ)を50〜1600Åに変えて作製した。これらの全試料に就いてX線により構造を調べた。2.自動制御システムよる電気抵抗測定装置の組立と超伝導臨界温度(Tc)の測定………上記作製した数十個の試料に就て超伝導体としての基本的な物性量である臨界温度を先ず測定する必要があり、試料数の多い事と測定の省力化のため試料の抵抗を同時に4個測定できる抵抗測定装置を組み立てそれを設備備品として計上した自動制御システム(コンピューター、ディスプレイ、プロッター、プリンター、デジタルマルチメータ)を用いて自動化した。これにより転移点の入依存性を測る事が出来た。3.上部臨界磁場の測定………上記2.の抵抗測定によって選び出した10〜20数個の試料に就て本所低温センター超伝導マグネットを用いて【H_(C2)】の測定を行った。この測定は磁場制御が多段階にあるため現在手動で行ってるが将来上記コンピューターシステムを用い自動化する計画を立てている所である。又データ解析にはコンピュータシステムを用いた。4.上記得られたデータを解析し理論との比較を行った。また目的の一つである臨界磁場を上げる事に関してはNbTi/Ti系の或る積層周期のものについてbulkより高いものの得られる可能性を見出し、今後更に組成、入、スパッタ条件を変えて研究を続けていくつもりである。

This study provides the most practical method for adjusting and adjusting the upper critical magnetic field of multilayer superconductors.されているNbTi alloy ultra-fine multi-core wire をLing ぐものが got られるかを动べる事にある. I have done research on Nb/Ti multilayer films in the past and used multilayer films on bulk films. Magnetic field (【H_(C2)】)を高める事が见出され、このRESULTSにbaseいて研究をPUSHINめている所である. The specific process and results are shown below. 1.NbTi-based multi-layer film production... Our company's にあるマルチターゲットスパッタ device is composed of NbTi/Ti and NbTi/Nb multi-layer films Compared with [Nb_(65)][Ti_(35)], [Nb_(28)][Ti_(72)] and more, the lamination period (λ) is 50~1600Å and it is produced by the same method. The whole sample is the same as the X-ray structure and the structure is adjusted. 2. The assembly of the automatic control electric resistance measuring device and the measurement of the super conductive critical temperature (Tc)... The number of dozens produced is listed above. The basic physical properties of the superconductor and the critical temperature of the sample are measured first and it is necessary to measure them first. The number of samples is too large and the measurement is easy. Resistance test of the test sample using force, simultaneous measurement of 4, resistance measurement device set, equipment spare parts, automatic control test on the meterステム(コンピューター、ディスプレイ、プロッター、プリンター、デジタルマルチメータ)を用いてautomationした.これにより転动点の入dependencyをmeasurementる事が出た. 3. Measurement of the upper critical magnetic field... Note 2. Resistance measurement: Select 10 to 20 pieces of resistance. The sample was measured using our laboratory's low-temperature testing equipment, H_(C2).このMeasurementはMagnetic field controlがMulti-stage にあるためNow manual operationってるがRecord in the futureコンピューターシステムを用いautomatic planning and establishment of the てているである. And データanalyzeにはコンピュータシステムを用いた. 4. Remember the theory and practice of analysis and comparison.またpurposeの一つであるcritical magnetic fieldを上げる事に关してはNbTi/Ti systemのorるlamination periodのものについてbulkより高いものの得られる possibility を见出し, will be updated in the future, composition, entry, スパッタ condition を変えて research を続けていくつもりである.

项目成果

H.Nakajima: J.Phys.Soc.Jpn.56. 295-300 (1987)

H.Nakajima：J.Phys.Soc.Jpn.56。

Y.Obi: Jpn.J.Appl.Phys.(1987)

Y.Obi：Jpn.J.Appl.Phys.(1987)